[实用新型]薄膜金属镀层电阻测试触头及测试系统

说明书

本实用新型提供一种薄膜金属镀层电阻测试触头及测试系统，薄膜金属镀层电阻测试触头包括壳体、多个触片、连接线路和通信接口；连接线路设置于壳体内，壳体开设一开口，通信接口设置于开口内，通信接口与连接线路电连接，触片排列设置于壳体的一面，各触片与连接线路电连接，触片的形状为长条形。长条形的触片能够增大测试触点的接触面积，有效提高测试高阻值镀层的稳定性，并且由于触头通过通信接口与主机连接，不同型号的触头的触片之间的间距不同，这样，可根据测试网格尺寸需求更换的测试触头，获得对应型号的测试触头，系统可自动获取该型号的测试触头的电阻计算参数，从而测得当前测试方阻值，使得系统可匹配不同形状的网格安全膜。

技术领域

本实用新型涉及金属镀层电阻测试技术领域，特别涉及一种薄膜金属镀层电阻测试触头及测试系统。

背景技术

在测试薄膜金属镀层方块的电阻(简称方阻)时，常规测试方法通常有两种：两针法和四针法。行业内比较常用的是采用四探针法测试。金属镀层方阻一般几欧姆到十几欧姆，采用四针法测试更准确。方阻测试头采用4根圆柱形1mm铜棒作为触电接触进行测试。一方面：由于标准方阻仪固定的测试触头，可以满足传统的低阻值十几欧姆以下镀层方阻测试，在测试高阻值几十欧姆方阻时，高方阻值膜镀层薄与与圆柱形小触头接触不稳定，导致测试方阻值变化较大，无法得到一个精确的值。另一方面：由于测试触头固定尺寸，当触头测试多变的网格安全膜时，一台设备无法匹配安全膜三角形、六边形、正方形等多变安全膜网格区域测试。

实用新型内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种薄膜金属镀层电阻测试触头及测试系统。

一种薄膜金属镀层电阻测试触头，包括：壳体、多个触片、连接线路和通信接口；

所述连接线路设置于所述壳体内，所述壳体开设一开口，所述通信接口设置于所述开口内，所述通信接口与所述连接线路电连接，所述触片排列设置于所述壳体的一面，各所述触片与所述连接线路电连接，所述触片的形状为长条形。

在其中一个实施例中，各所述触片相互平行。

在其中一个实施例中，各所述触片为紫铜镀金片。

在其中一个实施例中，所述触片的数量为四个。

在其中一个实施例中，四个所述触片包括依次排列的第一触片、第二触片、第三触片和第四触片，所述第二触片和所述第三触片位于所述第一触片和所述第四触片之间，所述第一触片和所述第二触片之间的距离等于所述第三触片和所述第四触片之间的距离。

在其中一个实施例中，还包括触发按钮，所述触发按钮设置于所述壳体的一侧的表面，所述触发按钮与所述连接线路电连接。

在其中一个实施例中，所述通信接口为RJ45接口。

一种薄膜金属镀层电阻测试系统，包括主机，还包括上述任一实施例中所述的薄膜金属镀层电阻测试触头，所述主机与所述薄膜金属镀层电阻测试触头电连接。

在其中一个实施例中，所述主机包括电阻测试仪和控制模块，所述控制模块与所述电阻测试仪电连接，所述电阻测试仪与所述薄膜金属镀层电阻测试触头的所述通信接口电连接。

在其中一个实施例中，所述控制模块包括触摸控制屏。

上述薄膜金属镀层电阻测试触头及测试系统，长条形的触片能够增大测试触点的接触面积，有效提高测试高阻值镀层的稳定性，并且由于触头通过通信接口与主机连接，不同型号的触头的触片之间的间距不同，这样，可根据测试网格尺寸需求更换的测试触头，获得对应型号的测试触头，系统可自动获取该型号的测试触头的电阻计算参数，从而测得当前测试方阻值，使得系统可匹配不同形状的网格安全膜，使得测试更为灵活。

附图说明

图1为一个实施例中的薄膜金属镀层电阻测试触头的立体结构示意图；