[实用新型]一种恒温激光粒度分析仪检测设备有效

专利信息
申请号: 202022248523.1 申请日: 2020-10-12
公开(公告)号: CN213544320U 公开(公告)日: 2021-06-25
发明(设计)人: 甘昆秀;高道华;林敏;胡文泉;吴维冰 申请(专利权)人: 江西广源化工有限责任公司;河南南召新广源材料有限公司
主分类号: G01N15/02 分类号: G01N15/02
代理公司: 南昌市平凡知识产权代理事务所 36122 代理人: 姚伯川
地址: 331500 *** 国省代码: 江西;36
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摘要:
搜索关键词: 一种 恒温 激光 粒度 分析 检测 设备
【权利要求书】:

1.一种恒温激光粒度分析仪检测设备,包括自动循环进样器、激光器、透镜和空间滤波器、准直镜、测量池、傅立叶透镜、大角探测器阵列、中心探测器、环形探测器阵列和数据采集器;其特征在于,所述检测设备还包括恒温装置,所述恒温装置设置在测量池外,并联接在测量池两端,能使被恒温的样水与恒温循环水进行逆向热交替,维持水温的恒定;所述自动循环进样器将粉体样品送入测量池。

2.根据权利要求1所述的一种恒温激光粒度分析仪检测设备,其特征在于,所述自动循环进样器是一个立式圆筒形结构,粉体样品由自动循环进样器进入测量池。

3.根据权利要求1所述的一种恒温激光粒度分析仪检测设备,其特征在于,所述激光器发出的激光束经透镜聚焦、针孔滤波和准直镜准直后,变成直径为10mm的平行光束。

4.根据权利要求1所述的一种恒温激光粒度分析仪检测设备,其特征在于,所述环形探测器阵列由一系列同心环带组成,每一环带是一个独立的探测器,能将投射到上面的散射光能线性地转换成电压。

5.根据权利要求1所述的一种恒温激光粒度分析仪检测设备,其特征在于,所述数据采集卡,该卡将电信号放大并经A/D转换,变成数字信号后送入计算机。

6.根据权利要求1所述的一种恒温激光粒度分析仪检测设备,其特征在于,所述中心探测器用以测量未被散射的光能量,通过测量和计算测量池中无颗粒样品和有颗粒样品时的光能之差,评估样品的体积浓度。

7.根据权利要求4所述的一种恒温激光粒度分析仪检测设备,其特征在于,所述环形探测器阵列用于接收散射光,改进大角探测器阵列上散射光的聚集精度,使散射光在任何探测单元上都能聚焦。

8.根据权利要求1所述的一种恒温激光粒度分析仪检测设备,其特征在于,所述恒温装置为闭式恒温循环水槽,内置循环水泵和外循环接口,可向外输出恒温水流;所述恒温循环水槽由高性能CPU处理芯片和高灵敏度、高精度铂电阻传感器构成的温度控制系统使温度控制精准。

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