[实用新型]一种兼容多种规格光模块老化测试的装置有效
| 申请号： | 202022273187.6 | 申请日： | 2020-10-13 |
| 公开（公告）号： | CN213544704U | 公开（公告）日： | 2021-06-25 |
| 发明（设计）人： | 张润泽;黄庆;陈硕;王光辉;张绍友 | 申请（专利权）人： | 成都市德科立菁锐光电子技术有限公司;无锡市德科立光电子技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R1/04 |
| 代理公司： | 北京市领专知识产权代理有限公司 11590 | 代理人： | 张玲 |
| 地址： | 610000 四川省成都*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 兼容 多种 规格 模块 老化 测试 装置 | ||
1.一种兼容多种规格光模块老化测试的装置，包括测试板（1），其特征在于，还包括若干类型子测试板（2），所述测试板（1）设有若干组主板数据接口；所述若干类型子测试板（2）中任意一个类型的子测试板（2）的一端设有子板数据接口，另一端设有光模块数据接口；所述若干类型子测试板（2）中任意两个不同类型的子测试板（2）的光模块数据接口不同；所述若干类型子测试板（2）中任意一个类型的子测试板（2）的子板数据接口与测试板（1）的若干组主板数据接口中任意一组主板数据接口相连接，光模块数据接口用于与需测试的相匹配的光模块（3）连接。
2.根据权利要求1所述的一种兼容多种规格光模块老化测试的装置，其特征在于，所述测试板（1）设有若干组主板数据接口的任意两组主板数据接口相同；所述若干类型子测试板（2）中任意两个不同类型的子测试板（2）的子板数据接口相同。
3.根据权利要求1所述的一种兼容多种规格光模块老化测试的装置，其特征在于，所述测试板（1）设有若干组主板数据接口的至少两组主板数据接口不相同；所述若干类型子测试板（2）中至少两个不同类型的子测试板（2）的子板数据接口不相同。
4.根据权利要求1所述的一种兼容多种规格光模块老化测试的装置，其特征在于，所述测试板（1）设有五组接口，设有五个类型的子测试板（2），五个类型的子测试板（2）的子板数据接口相同，光模块数据接口不同。
5.根据权利要求4所述的一种兼容多种规格光模块老化测试的装置，其特征在于，所述五个类型的子测试板（2）的光模块数据接口分别为用于CFP光模块的数据接口、用于CFP2光模块的数据接口、用于QSFP28光模块的数据接口、用于QSFPDD光模块的数据接口和用于SFP28光模块的数据接口。
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