[实用新型]一种测试半导体母头连接器的测试探针

说明书

本实用新型提供一种测试半导体母头连接器的测试探针，涉及挂架技术领域。本实用新型包括测试探针管，上述测试探针管的一端连接有用于信号传输的测试导柱，上述测试导柱与上述测试探针管伸缩配合，上述测试探针管的另一端连接有插入上述半导体母头连接器内的测试探针头，上述测试探针头呈扁平状，上述测试探针头靠近上述测试探针管端的环侧与上述半导体母头连接器的内侧相接，上述测试探针头的远离上述测试探针管的侧边呈弧形。本实用新型解决了目前所使用的半导体连接器测试探针找点精度差的问题。

技术领域

本实用新型涉及半导体测量技术领域，具体而言，涉及一种测试半导体母头连接器的测试探针。

背景技术

半导体(semiconductor)，指常温下导电性能介于导体(conductor)与绝缘体(insulator)之间的材料。半导体在收音机、电视机以及测温上有着广泛的应用。如二极管就是采用半导体制作的器件。半导体是指一种导电性可受控制，范围可从绝缘体至导体之间的材料。无论从科技或是经济发展的角度来看，半导体的重要性都是非常巨大的。今日大部分的电子产品，如计算机、移动电话或是数字录音机当中的核心单元都和半导体有着极为密切的关连。常见的半导体材料有硅、锗、砷化镓等，而硅更是各种半导体材料中，在商业应用上最具有影响力的一种。

半导体连接器是半导体行业中的一种连接元件，是电子设备中不可缺少的部件，承载着光信号和电信号的转化重任，半导体连接器需要定期进行测试，以确定其性能，尤其是针对一种半导体(母头)连接器，通过测试治具来进行测量，测试治具包括测试探针，测试探针与半导体(母头)连接器接触测量，现有的测试探针存在找点精度差的问题。

综上所述，我们提出了一种测试半导体母头连接器的测试探针解决以上问题。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供了一种测试半导体母头连接器的测试探针，解决了目前所使用的半导体连接器测试探针找点精度差的问题。

本实用新型的实施例是这样实现的：

一种测试半导体母头连接器的测试探针，包括测试探针管，上述测试探针管的一端连接有用于信号传输的测试导柱，上述测试导柱与上述测试探针管伸缩配合，上述测试探针管的另一端连接有插入上述半导体母头连接器内的测试探针头，上述测试探针头呈扁平状，上述测试探针头靠近上述测试探针管端的环侧与上述半导体母头连接器的内侧相接，上述测试探针头的远离上述测试探针管的侧边呈弧形。

在本实用新型的一些实施例中，上述测试探针管纵向放置，上述测试探针头连接在上述测试探针管的下侧，上述测试探针管的上侧密封，上述测试探针管的上侧设有贯穿孔，上述贯穿孔的口径小于上述测试探针管的内径，上述测试探针管内设有处于压缩状态的第一弹簧，上述第一弹簧的上侧连接有与滑动台，上述测试导柱位于上述测试探针头的上方，上述测试导柱的下侧穿过上述贯穿孔与上述滑动台的上侧连接。

在本实用新型的一些实施例中，上述滑动台的口径大于上述贯穿孔的口径，上述滑动台的口径小于上述测试探针管的口径。

在本实用新型的一些实施例中，上述测试探针管纵向放置，上述测试探针头连接在上述测试探针管的下侧，上述测试导柱位于上述测试探针头的上方，上述测试导柱内设有处于第二弹簧，上述测试导柱的下侧贯穿上述测试探针管管壁与上述第二弹簧的上侧连接。

在本实用新型的一些实施例中，上述测试探针管的内腔设有沿其纵向方向滑动的滑动槽，上述测试导柱上设有与上述滑动槽滑动配合的滑块。

在本实用新型的一些实施例中，上述滑动槽上侧的水平面低于上述测试探针管上侧的水平面。

在本实用新型的一些实施例中，上述测试探针管内侧相对设有两个上述滑动槽，上述测试导柱上设有两个上述滑块，两个上述滑块与两个上述滑动槽一一对应配合。

在本实用新型的一些实施例中，上述测试探针管与上述测试探针头铆接。