[实用新型]实验室用分析天平

说明书

本实用新型提供了一种实验室用分析天平，该天平包括天平主体。在天平主体的上表面靠前的位置设置有显示控制器，在天平主体上表面且位于显示控制器的上方设置有水平仪。并在天平主体的上表面设置有秤盘和防尘罩，防尘罩活动罩设于秤盘外，于防尘罩的中部开设有供称量漏斗安置的穿孔。另外，在防尘罩的顶部滑动设置有提手，提手可构成穿孔的封闭。在天平主体四角螺接有贯穿天平主体的支撑杆，支撑杆可构成对天平主体的支撑。本实用新型的实验室用分析天平，有助于提高秤盘称重物体的精确度，避免了灰尘对秤盘造成污染。

技术领域

本实用新型涉及精密分析天平技术领域，特别涉及一种实验室用分析天平。

背景技术

分析天平是实验中进行准确称量时最重要的仪器，它可以分为机械类和电子类,机械类分析天平可细分为普通分析天平、空气阻尼天平、半自动光电天平、全自动光电天平和单托盘天平等,机械天平能够满足一般定量分析的准确度要求，灵敏度为0.1mg，现有的实验室用的精密分析天平在使用过程中，不便于工作人员将天平主体调节成水平状态，在不使用状态时，不能避免灰尘对秤盘造成污染。另外，在使用增量法称取粉末或颗粒状样品或药品时，若使用如50ml磨口锥形瓶、100ml磨口试管或底部呈圆形且颈部狭长的试管、微波消解罐等容器时，因需避免样品或药品挂壁，以及其无法在称量室内保持直立的问题，不能通过分析天平向容器内直接加量称取，常使用称量纸称取后再转移至容器内的方法，但依然无法避免挂壁的情况发生，同时增加了实验步骤，加大了人为误差的影响。

实用新型内容

有鉴于此，本实用新型旨在提出一种实验室用分析天平，有助于提高秤盘称重物体的精确度，避免了灰尘对秤盘造成污染。

为达到上述目的，本实用新型的技术方案是这样实现的：

一种实验室用分析天平，包括天平主体，于所述天平主体的上表面靠前的位置设置有显示控制器，于所述天平主体上表面且位于所述显示控制器的上方设置有水平仪；于所述天平主体的上表面设置有秤盘和防尘罩，所述防尘罩活动罩设于所述秤盘外，于所述防尘罩的中部开设有供称量漏斗安置的穿孔，于所述防尘罩的顶部滑动设置有提手，所述提手可构成所述穿孔的封闭；于所述天平主体四角螺接有贯穿所述天平主体的支撑杆，所述支撑杆可构成对所述天平主体的支撑。

进一步的，于所述支撑杆的顶部设置有供手部操作的操作部。

进一步的，于所述支撑杆的底部设置有底座。

进一步的，所述防尘罩的外表面采用的透明材质。

进一步的，于所述防尘罩的外表面构造有观察窗。

进一步的，于所述防尘罩的内壁拆装有吸尘装置。

进一步的，所述吸尘装置被配置为充电型。

相对于现有技术，本实用新型具有以下优势：

本实用新型所述的实验室用分析天平，本实用新型通过天平主体的前端外表面中间的位置固定安装水平仪，天平主体的下端外表面开设四个滑槽，四个滑槽的横截面均为T型，四个滑槽的内部均滑动连接滑块，四个滑块的下端外表面均固定安装第一支撑杆，四个第一支撑杆的下端外表面均活动安装第二支撑杆，观察水平仪来确定天平主体是否处于水平状态，当天平主体不处于水平状态，工作人员通过旋转第一支撑杆，第一支撑杆上的滑块在滑槽中滑动，第一支撑杆与第二支撑杆螺接，进而通过调节第一支撑杆和第二支撑杆的总高度来调节天平主体的水平状态，方便了工作人员将天平主体调节成水平状态。

附图说明

构成本实用新型的一部分的附图，是用来提供对本实用新型的进一步理解，本实用新型的示意性实施例及其说明是用于解释本实用新型，其中涉及到的前后、上下等方位词语仅用于表示相对的位置关系，均不构成对本实用新型的不当限定。在附图中：

图1为本实用新型实施例所述的实验室用分析天平的结构示意图；