[实用新型]一种用于整版LED的测试架

说明书

一种用于整版LED的测试架，包括PCB板、探针及一组接电端子或连接线；PCB板上开有通孔，通孔与待测整版LED背部正负极焊盘中心点对应；探针镶嵌在PCB板的通孔内固定并导通PCB正反面线路。本实用新型提供的一种用于整版LED的测试架，可实现整片LED半成品的点灯测试和验证。

技术领域

本实用新型涉及LED生产制造领域，尤其是一种用于整版LED的测试架。

背景技术

LED光源广泛应用于背光和照明领域，灯珠测试是其生产过程中的重要环节。目前测试主要方式为单颗测试，测试时材料已冲压或切割成单颗，再通过专用测试机器快速稳定完成灯珠分选；但此种方式不适用于实验阶段未烘烤半成品测试和少量多组同时实验追溯，待全制程完成，材料投入多，耗时长。

发明内容

本实用新型所要解决的技术问题是提供一种用于整版LED的测试架，可实现整片LED半成品的点灯测试和验证。

为解决上述技术问题，本实用新型所采用的技术方案是：

一种用于整版LED的测试架，包括PCB板、探针及一组接电端子或连接线；

PCB板上开有通孔，通孔与待测整版LED背部正负极焊盘中心点对应；

探针镶嵌在PCB板的通孔内固定并导通PCB正反面线路。

所述PCB板、待测整版LED一端均对应设有定位孔。

本实用新型一种用于整版LED的测试架，具有以下技术效果：

1）、通过以探针接触灯珠底部焊盘实现整片LED半成品的点灯测试和验证，无需等待全生产制程完成，在线直观快速点灯查看灯珠实验初步效果，提高实验效率。

2）、可同时在整片材料实验上多组配比实验，节省材料；如以本申请图3中单片LED336颗为例，可点测单组24PCS实验数量，同时完成14组方案。

3）、单组或整版LED无需老化设备即可进行常温、高温和其他实验条件长期老化点灯，实时观察确认效果。

4）、多组配比实验，同等条件同步验证，无需组配或高温焊接减少实验变量。

5）、可单组或整版LED半成品灯珠放入积分球提前评估配比准确性。

6）、无需剥离单颗灯珠，节约人力及时间。

7）、仅需探针加单PCB板再焊接端子即可完成初测或老化验证，与专业测试和老化设备相比，成本低廉。

附图说明

下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步说明：

图1为本实用新型的俯视图。

图2为本实用新型的局部剖视图。

图3为本实用新型与待测整版LED对应时的示意图。

图4为本实用新型中PCB板处于正面时的线路图。

图5为本实用新型中PCB板处于背面时的线路图。

图中： PCB板1，探针2，接电端子3，通孔4，待测整版LED 5，正负极焊盘中心点6，定位孔7，整排串联线路8，整列并线路9。

具体实施方式

如图1-3所示，一种用于整版LED的测试架，包括PCB板1、探针2及一组接电端子3或连接线。