[实用新型]一种高精度检测RFID芯片性能平台

说明书

本实用新型涉及一种高精度检测RFID芯片性能平台，包括底台，所述底台顶部连接有放置台，所述放置台顶侧挖设有第一矩形凹槽，所述第一矩形凹槽内腔中设有第一螺纹杆，所述第一矩形凹槽顶部固定连接有定位框架，所述第一矩形凹槽内壁之间滑动连接有放置板，所述放置板顶部挖设有放置槽，所述放置台右侧设有第一调节钮，所述底台左侧设有第二调节钮，所述底台顶部挖设有第二矩形凹槽，所述第二矩形凹槽内部设有第二螺纹杆，所述第二矩形凹槽内壁之间滑动连接有支撑板，方便各种仪器在定位框架上方对芯片进行检测，使仪器检测的位置更加的精确，适用范围大大提高，实用性进一步加强。

技术领域

本实用新型涉及一种高精度检测RFID芯片性能平台，属于RFID芯片检测技术领域。

背景技术

随着科学技术的发展，RFID芯片已经大量用在我们生活当中，为保证RFID芯片的质量，在出厂前都要进行严格的检验，确保RFID芯片功能的完整性和可靠性，但是对RFID芯片的检测是一个复杂而又费时费力的过程，在检测的过程中需要通过特定的检测仪器设备对其进行相关的检测，从而造成了操作复杂，检测难度大的问题，很难适应目前相关企业的使用，所以现有的检测方法大多采用人工对RFID芯片进行相关的检测工作，具体表现在用多个仪器进行配合，逐步的对其进行测试，在检测的过程中需要来回拿取样品进行操作，现有的功定位平台不能够对芯片根据检测设备的不同进行及时的调整，为此，提供一种高精度检测RFID芯片性能平台。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题克服现有的缺陷，提供一种高精度检测RFID芯片性能平台，可以有效解决背景技术中的问题。

为了解决上述技术问题，本实用新型提供了如下的技术方案：

一种高精度检测RFID芯片性能平台，包括底台，所述底台顶部连接有放置台，所述放置台顶侧挖设有第一矩形凹槽，所述第一矩形凹槽内腔中设有第一螺纹杆，所述第一矩形凹槽顶部固定连接有定位框架，所述第一矩形凹槽内壁之间滑动连接有放置板，所述放置板顶部挖设有放置槽，所述放置台右侧设有第一调节钮，所述底台左侧设有第二调节钮，所述底台顶部挖设有第二矩形凹槽，所述第二矩形凹槽内部设有第二螺纹杆，所述第二矩形凹槽内壁之间滑动连接有支撑板。

作为上述方案的进一步描述，所述第一螺纹杆左端通过轴承与第一矩形凹槽内壁连接，所述第一螺纹杆右端贯穿放置台右侧，且与第一调节钮连接固定。

作为上述方案的进一步描述，所述第一螺纹杆外壁上设有第一螺母，所述第一螺纹杆通过第一螺母与放置板底侧固定连接。

作为上述方案的进一步描述，所述第二螺纹杆右端通过轴承与第二矩形凹槽内壁连接，所述第二螺纹杆左端贯穿底台左侧，且与第二调节钮连接。

作为上述方案的进一步描述，所述第二螺纹杆外壁上设有第二螺母，所述第二螺纹杆通过螺母与支撑板底部固定连接，所述支撑板顶部与放置台底部左侧固定连接。

作为上述方案的进一步描述，所述第二矩形凹槽左右两侧对称设有第三矩形凹槽，所述第三矩形凹槽内壁之间固定连接有导向杆，所述导向杆外壁上通过套环连接有移动板，所述移动板顶侧与放置台底侧固定连接。

本实用新型有益效果：

1、通过设置第一螺纹杆与第一调节钮，能够将放置有芯片的放置板向左移动到定位框架内，从而方便各种仪器在定位框架上方对芯片进行检测，使仪器检测的位置更加的精确；

2、通过设置第二调节钮与第二螺纹杆，方便整体装置能够适用于不同检测位置的检测仪器，适用范围大大提高，实用性进一步加强；

3、通过设置导向杆与移动板，通过套环在导向杆外壁上随之进行移动，从而能够有效的保证放置台在移动中的稳定性。

附图说明