[实用新型]一种静音开关的导通测试装置

权利要求书

1.一种静音开关的导通测试装置，其特征在于，包括：

导通测试装置设置为一台式结构，台式结构上设置一测试装备底座，测试装备底座上设置一下压探针固定板伺服推杆电机，装备底座上还设置有：测试探针连接电路板、测试探针固定板、下压探针固定板、弹簧和静音开关放置板，其中，下压探针固定板上设置穿过下压探针固定板的下压探针，测试探针固定板上设置穿过测试探针固定板的测试探针，测试探针的一端与测试探针连接电路板进行固定连接，静音开关放置板上放置多个待测的静音开关；下压探针固定板设置于测试探针固定板上方，测试探针连接电路板固定安装在测试探针固定板的上方，即从上到下设置为：下压探针固定板、测试探针连接电路板和测试探针固定板；弹簧的一端与下压探针固定板连接，弹簧的另一端与测试探针固定板连接，下压探针固定板伺服推杆电机的一端与下压探针固定板接触，可推动下压探针固定板进行上下运动，弹簧推动测试探针固定板进行相应的上下运动。

2.根据权利要求1所述的导通测试装置，其特征在于，

所述测试装备底座还包括：固定板导杆、静音开关待测样品导轮、测试触发按钮和测试结果显示器，其中，固定板导杆和静音开关待测样品导轮分布设置在测试装备底座的顶面上，下压探针固定板和测试探针固定板是通过固定板导杆设置在测试装备底座上，测试结果显示器通过一支架固定设置在测试装备底座上，测试结果显示器的显示屏整个位于测试装备底座上方的外面。

3.根据权利要求2所述的导通测试装置，其特征在于，

所述待测的静音开关包括：承载膜、铜箔、弹片和覆盖膜，其中，铜箔放置在承载膜上，弹片放置在铜箔上，覆盖膜覆盖在弹片和铜箔上，覆盖膜和承载膜粘贴在一起，将弹片和铜箔包裹在中间，即待测的静音开关的由上至下设置为：覆盖膜、弹片、铜箔和承载膜；覆盖膜设置为部分开窗，通过开窗露出部分铜箔。

4.根据权利要求3所述的导通测试装置，其特征在于，

所述测试探针包括：测试探针头部、测试探针针套和测试探针卡环；

所述测试探针固定板包括：下压探针过穿孔、测试探针固定孔、测试探针连接电路板固定孔和测试探针固定板导孔，其中，下压探针通过下压探针过穿孔穿过测试探针固定板；测试探针通过测试探针固定孔固定安装在测试探针固定板上；测试探针固定板通过测试探针固定板导孔放置在测试装备底座的固定板导杆上，测试探针固定板可沿固定板导杆上下运动；测试探针穿进测试探针固定板的测试探针固定孔，测试探针针套和测试探针固定孔为过盈配合连接；测试探针卡环卡在测试探针固定板的底部；测试探针固定板沿固定板导杆向下移动时，测试探针头部穿过静音开关放置板上待测的静音开关的覆盖膜的开窗，压在铜箔上；

所述测试探针连接电路板包括：固定孔、下压探针电路板过穿孔、测试探针焊接孔和排线连接器，其中，测试探针连接电路板通过固定孔使用铜柱固定在测试探针固定板的测试探针连接电路板固定孔上；测试探针的测试探针针套的末端焊接在测试探针连接电路板的测试探针焊接孔上；测试探针连接电路板通过排线连接器电连接在测试装备底座上。

5.根据权利要求4所述的导通测试装置，其特征在于，

所述下压探针包括：下压探针头部、下压探针针套和下压探针卡环；

所述下压探针固定板包括：下压探针固定板导孔、下压探针固定孔和下压探针固定板推杆固定孔，其中，下压探针固定板通过下压探针固定板导孔放置在测试装备底座的固定板导杆上，下压探针固定板可沿固定板导杆上下运动；下压探针的下压探针针套穿进下压探针固定板的下压探针固定孔中，下压探针针套和下压探针固定孔为过盈配合连接，下压探针卡环卡在下压探针固定板的底部，下压探针固定板沿固定板导杆向下移动时，下压探针头部穿过下压探针电路板过穿孔和下压探针过穿孔下压到静音开关放置板上待测的静音开关的弹片上。

6.根据权利要求5所述的导通测试装置，其特征在于，

进一步包括：所述铜箔、测试探针、测试结果显示器、测试触发按钮、下压探针固定板伺服推杆电机都和测试装备底座为电连接方式。

7.根据权利要求6所述的导通测试装置，其特征在于，

还包括：所述静音开关放置板设置为条状板式结构，静音开关放置板上面放置有多个待测的静音开关，每一个静音开关的位置设置为：对应的下压探针和对应的测试探针在运动后接触的相对应位置。