[实用新型]一种CAF测试试验装置

说明书

本实用新型公开了一种CAF测试试验装置，包括测试板，所述测试板的顶部外表面设置有多组DC电源端PIN孔，所述DC电源端PIN孔的内部设置有多组通道PIN孔，所述对应的DC电源端PIN孔之间设置有橡胶层，所述相邻的通道PIN孔之间且位于橡胶层的内侧设置有多组测试线，所述测试线的外侧且位于测试版的外侧设置有温箱，所述温箱的外侧外表面且位于测试线的外侧设置有接线插座，所述接线插座的外侧外表面设置有高阻计，所述高阻计的外侧设置有接线插头，所述测试板的外侧外表面设置有DC电源。本实用新型为一种CAF测试试验装置，对加偏压测试回路和高阻测量回路做单独设计，保证测量回路抗电干扰能力同时简化测量操作，提升测量效率。

技术领域

本实用新型涉及试验装置技术领域，特别涉及一种CAF测试试验装置。

背景技术

PCBCAF测试比较简单，但是在进行正确的测试方法中会有很多障碍，其中最主要难点为测量回路要求高与测量过程繁琐，测量时间长，其中由于高阻测试易受电干扰，试验又在高温高湿环境下，且一般会有100～300个测试通道同时进行，在测量过程中要减少测试线与线的干扰，测量连接端子的干扰，以及测试板之间干扰等，所以对测试线及连接端子选型及测试板的设计要求很高；并且通常一个温箱可以同时测试288个通道，要对每个通道单独测量绝缘电阻值，由于高阻测量需要60s时间才能稳定，测量一台箱子的所有通道绝缘电阻理论计算需要5个小时左右，还要考虑测量每个通道的操作时间，所以实际测量时间会更长,为此，我们提出一种CAF测试试验装置。

实用新型内容

本实用新型的主要目的在于提供一种CAF测试试验装置，可以有效解决背景技术中的问题。

为实现上述目的，本实用新型采取的技术方案为：

一种CAF测试试验装置，包括测试板，所述测试板的顶部外表面设置有多组DC电源端PIN孔，所述DC电源端PIN孔的内部设置有多组通道PIN孔，所述对应的DC电源端PIN孔之间设置有橡胶层，所述相邻的通道PIN孔之间且位于橡胶层的内侧设置有多组测试线，所述测试线的外侧且位于测试板的外侧设置有温箱，所述温箱的外侧外表面且位于测试线的外侧设置有接线插座，所述接线插座的外侧外表面设置有高阻计，所述高阻计的外侧设置有接线插头，所述测试板的外侧外表面设置有DC电源。

优选的，所述测试板与DC电源端PIN孔为电镀焊接，所述DC电源端PIN 孔为六组，所述DC电源端PIN孔的外侧外表面设置有镀金端子，所述镀金端子与DC电源端PIN孔为固定连接，所述DC电源端PIN孔与DC电源相对应。

通过采用上述技术方案，可达到如下技术效果：从而达到了对组测试的效果。

优选的，所述DC电源端PIN孔的内侧与通道PIN孔的内侧均设置有PIN 针，所述橡胶层为耐高温软硅胶线结构，所述DC电源端PIN孔通过测试线与通道PIN孔互相连接，所述通道PIN孔可采用编号排列，所述橡胶层与测试线为固定连接，所述橡胶层的底部与测试板的顶部外表面为固定连接，所述通道PIN孔为组，所述橡胶层为两组，所述对应的通道PIN孔为平行排列。

通过采用上述技术方案，可达到如下技术效果：从而达到了便于排列测试的效果。

优选的，所述DC电源通过测试线与测试板互相连接，所述测试板通过测试线与温箱为互相连接，所述测试板通过通道PIN孔对温箱进行加偏压。

通过采用上述技术方案，可达到如下技术效果：从而达到了直接加偏压测试回路的效果。

优选的，所述PIN针与接线插头为电性连接，所述高阻计通过测试线与 PIN针为互动连接，所述接线插座通过测试线与温箱为互相连接，所述接线插座与接线插头为活动连接，所述高阻计检测完成后再将测试线插入对应的测试板的内侧。

通过采用上述技术方案，可达到如下技术效果：从而达到了避免干扰检测的效果。