[实用新型]一种耦合/去耦网络及抗干扰测试系统

说明书

本实用新型涉及一种耦合/去耦网络及抗干扰测试系统，包括耦合电路和去耦电路，所述耦合电路包括耦合电容和耦合隔离电感，所述耦合电容的一端连接干扰信号发生器，耦合电感的另一端通过耦合隔离电感连接至EUT端口，所述耦合电容用于通过所述耦合隔离电感将干扰信号同时耦合到两根被测线上；所述去耦电路包括去耦电容、去耦隔离电感和共模电感，所述去耦电容的第一端连接至去耦隔离电感的中心抽头，所述去耦电容的第二端接地，所述去耦隔离电感的两端对应连接至AE端口；所述共模电感的一侧连接至EUT端口，所述共模电感的另一侧连接至AE端口。本实用新型通过信号隔离电感来隔离被测线之间的信号导通，同时可以将干扰信号无衰减的传递给被测线路。

技术领域

本申请属于网络信号传输技术领域，尤其是涉及一种耦合/去耦网络及抗干扰测试系统。

背景技术

高速耦合/去耦网络用于国家标准GB/T 17626.18中非频率对称线(高速率传输线)多线同时耦合干扰信号，同时评估被测产品的抗干扰能力。

耦合/去耦网络中的耦合电路既要能将被测干扰信号耦合到被测线路上，同时还要隔离被测线路上的有用信号，避免不同线路上的信号相互导通，使之无法正常工作，从而无法判定被测产品的抗干扰能力。

耦合/去耦网络中的去耦电路，既要能将被测干扰信号去耦，同时还能让被测线路中的有用传输信号能够在线路中正常传输。

现阶段市面上耦合/去耦电路中选用的耦合/去耦器件主要是电容器，也有少量采用GDT(气体放电管)。采用电容器，会造成被测线路之间，通讯信号短路。采用GDT，由于GDT工作时会产生放电火花，严重影响试验波形，而且持续长时间工作，容易损毁。

实用新型内容

本实用新型主要用于解决现有技术中的耦合/去耦网络，若采用电容器，容易造成被测线路之间通讯信号短路，若采用GDT，工作时会产生放电火花，严重影响试验波形，而且持续长时间工作，容易损毁的问题。

为解决上述技术问题，本实用新型提供了一种耦合/去耦网络及抗干扰测试系统，本实用新型的耦合/去耦网络采用的电容器来实现，通过一个耦合电容将干扰信号同时耦合到两根被测线上，同时为了避免两根被测线之间在耦合电容端的短路，在两根被测线之间设置了隔离电感，以隔离两根被测线之间的信号导通，同时可以将耦合电容耦合过来的干扰信号无衰减的传递给被测线路上。

本实用新型采用的技术方案具体为：

本实用新型第一方面提供一种耦合/去耦网络，所述耦合/去耦网络连接在辅助设备和被测设备之间，包括耦合电路和去耦电路，所述耦合电路的一侧连接EUT端口，所述耦合电路的另一侧通过去耦电路连接AE端口；

所述耦合电路包括耦合电容和耦合隔离电感，所述耦合电容的第一端用于连接干扰信号发生器，所述耦合电容的第二端连接至所述耦合隔离电感的中心抽头，所述耦合隔离电感的两端对应连接至EUT端口，所述耦合电容用于通过所述耦合隔离电感将干扰信号同时耦合到两根被测线上；

所述去耦电路包括去耦电容、去耦隔离电感和共模电感，所述去耦电容的第一端连接至去耦隔离电感的中心抽头，所述去耦电容的第二端接地，所述去耦隔离电感的两端对应连接至AE端口；所述共模电感的一侧连接至EUT端口，所述共模电感的另一侧连接至AE端口。

本实用新型第二方面提供一种抗干扰测试系统，包括干扰信号发生器，用于产生测试用干扰信号，还包括本实用新型第一方面所述的耦合/去耦网络。

本实用新型的有益效果是：本实用新型耦合电路通过一个耦合电容同时对两根被测线进行耦合，即将干扰信号同时耦合到两根被测线上，通过设置信号隔离电感来隔离两根被测线之间的信号导通，同时可以将耦合电容耦合过来的干扰信号无衰减的传递给被测线路上保证干扰信号不失真传递，而且在耦合电容耦合情况下，保证网络传输1000Mbit速率信号。

附图说明