[实用新型]一种薄膜电容产品外观瑕疵检验装置

说明书

本实用新型提供了一种薄膜电容产品外观瑕疵检验装置，其包括操作台和支架，所述操作台上设有进料装置和转盘，所述转盘上设有多个产品位，所述进料装置的物料出口对着转盘，所述转盘的外侧沿圆周方向设有底部外观检测位、薄膜电容外观检测位、良品出料通道和不良品出料通道；所述底部外观检测位在位于转盘产品位的下方设有底部外观检测摄像头，所述支架位于转盘的一侧，所述支架上设有用于检测薄膜电容顶面、正面、背面、左侧面、右侧面、引线正面、引线背面外观的多个不同角度的摄像头；所述良品出料通道、不良品出料通道的上方或一侧分别设有出料机构。采用本实用新型的技术方案，极大的提升了检验灵活性与准确性，并且易于更新和维护。

技术领域

本实用新型涉及电子元器件外观检测技术领域，尤其涉及一种薄膜电容产品外观瑕疵检验装置。

背景技术

随着工业生产的不断发展及人们对物质需求的不断增加，薄膜电容的全球年产量约600亿颗。目前主流的薄膜电容外观检测方法还是靠产线作业员人工目检，根据定义好的判断标准进行检测。现有的自动检测方法，大多是根据以前的经验和检测规范，靠技术人员来制定判断规则并用程序来实现。但是这种人工检测方案，需要大量人力，而且错误率高，效率低下，容易造成产能瓶颈和较高的返厂客诉。

现有自动检测方法虽然可以改善产品品质，但因为规则的制定主要依赖于作业人员的经验和过往测试数据，然而人工难以在大量数据间总结出具体的相互映射关系，导致规则定义有较大局限性，存在无法识别未定义的瑕疵等问题，因此检测效率与人工相比很难有明显提升。

实用新型内容

针对上述技术问题，本实用新型公开了一种薄膜电容产品外观瑕疵检验装置，克服现在检验方案灵活性差，检验精度低，误检率高等弊端。

对此，本实用新型的技术方案为：

一种薄膜电容产品外观瑕疵检验装置，其包括操作台和支架，所述操作台上设有进料装置和转盘，所述转盘上设有多个产品位，所述进料装置的物料出口对着转盘，

所述转盘的外侧沿圆周方向设有底部外观检测位、薄膜电容外观检测位、良品出料通道和不良品出料通道；

所述底部外观检测位在位于转盘产品位的下方设有底部外观检测摄像头，所述支架位于转盘的一侧，所述支架上设有用于检测薄膜电容顶面、正面、背面、左侧面、右侧面、引线正面、引线背面外观的多个不同角度的摄像头；

所述良品出料通道、不良品出料通道的上方或一侧分别设有出料机构。

采用此技术方案，通过进料装置将薄膜电容送料到转盘的产品位上，随着转盘的转动，转到底部外观检测位，通过底部外观检测摄像头进行底部的外观检测，然后依次转到薄膜电容外观检测位，通过多个不同角度的摄像头对薄膜电容的另外几个面以及引线进行拍照并识别是否有瑕疵，转盘继续转动，薄膜电容进入到良品出料位，如果料无瑕疵，通过良品出料通道送出；如果料有瑕疵，物料会继续被转到不良品出料位，并通过不良品出料通道排出，实现自动或半自动的外观检测。其中，采用图片进行对比视觉检测采用现有技术的方法。

作为本实用新型的进一步改进，所述产品位包括夹料构件，所述夹料构件包括底部镂空的支撑座，所述支撑座设有与薄膜电容外形尺寸匹配的凹槽。

作为本实用新型的进一步改进，所述支架上设有顶面外观摄像头、正面外观摄像头、背面外观摄像头、左侧面外观摄像头、右侧面外观摄像头，所述顶面外观摄像头位于产品位的正上方，所述正面外观摄像头、背面外观摄像头、左侧面外观摄像头和右侧面外观摄像头分别位于产品位的四周。

作为本实用新型的进一步改进，所述支架上设有引线正面外观摄像头和引线背面外观摄像头，所述引线正面外观摄像头和引线背面外观摄像头朝着产品位的上方。