[实用新型]一种光学元器件厚度的测量装置

权利要求书

1.一种光学元器件厚度的测量装置，包括防护壳(1)，其特征在于：所述防护壳(1)的内顶壁固定连接有固定块(2)，所述固定块(2)的底部固定连接有电动推杆(3)，所述电动推杆(3)的一端固定连接有连接块(4)，所述防护壳(1)的内侧壁固定连接有隔板(6)，所述隔板(6)的顶部固定连接有安装块(7)，所述安装块(7)的正面开设有滑槽(8)，所述滑槽(8)的内壁活动连接有滑块(9)；

所述滑块(9)的顶部固定连接有活动杆(10)，所述安装块(7)的顶部固定连接有固定杆(11)，所述防护壳(1)的侧壁开设有散热口(12)，所述防护壳(1)的内侧壁固定连接有支撑杆(14)，所述支撑杆(14)的一端固定连接有风机罩(15)，所述防护壳(1)的内侧壁固定连接有风机(16)，所述防护壳(1)的正面固定连接有防护门(18)，所述防护门(18)的正面固定连接有门栓(19)，所述门栓(19)的正面开设有门锁(20)。

2.根据权利要求1所述的一种光学元器件厚度的测量装置，其特征在于：所述防护壳(1)的正面固定连接有合页(17)，所述防护壳(1)通过合页(17)与防护门(18)活动连接。

3.根据权利要求1所述的一种光学元器件厚度的测量装置，其特征在于：所述支撑杆(14)的数量为两个，且两个支撑杆(14)以风机罩(15)的水平中线为对称轴对称设置。

4.根据权利要求1所述的一种光学元器件厚度的测量装置，其特征在于：所述散热口(12)的内壁固定连接有散热网(13)，且散热网(13)为不锈钢散热网。

5.根据权利要求1所述的一种光学元器件厚度的测量装置，其特征在于：所述滑块(9)的形状大小与滑槽(8)的形状大小均相互匹配，且活动杆(10)通过滑块(9)与滑槽(8)活动连接。

6.根据权利要求2所述的一种光学元器件厚度的测量装置，其特征在于：所述合页(17)的数量为两个，且两个合页(17)以防护门(18)的水平中线为对称轴对称设置。

7.根据权利要求1所述的一种光学元器件厚度的测量装置，其特征在于：所述连接块(4)的底部固定连接有垫子(5)，且垫子(5)为橡胶垫子。