[实用新型]同步率测试装置

权利要求书

1.同步率测试装置，其包括电容式加速度传感器、CPU芯片和信号调理电路，其特征在于：所述信号调理电路包括第一增益可调放大电路、第二增益可调放大电路、第一隔直电路、第二隔直电路和差分放大器；

所述电容式加速度传感器的正极输出直流信号和交流信号，该直流信号和交流信号输入至第一增益可调放大电路的输入端，第一增益可调放大电路对直流信号和交流信号进行放大处理并输出放大后的直流信号和交流信号，所述直流信号和交流信号通过第一隔直电路滤除直流信号，并输出交流信号至差分放大器的第一输入端；

所述电容式加速度传感器的负极输出直流信号和交流信号，该直流信号和交流信号输入至第二增益可调放大电路的输入端，第二增益可调放大电路对直流信号和交流信号进行放大处理并输出放大后的直流信号和交流信号，所述直流信号和交流信号通过第二隔直电路滤除直流信号，并输出交流信号至差分放大器的第二输入端；差分放大器经过差分处理，输出代表电容式加速度传感器电容变化量的交流信号到CPU芯片的模拟输入端。

2.如权利要求1所述的同步率测试装置，其特征在于：所述第一增益可调放大电路包括电阻R1、电阻R2、可调电阻R3和第一运算放大器LM224；

所述电容式加速度传感器的正极通过电阻R1与第一运算放大器LM224的同相输入端电性连接，第一运算放大器LM224的反相输入端分别与电阻R2的一端和可调电阻R3的一端电性连接，可调电阻R3的另一端接地，电阻R2的另一端与第一运算放大器LM224的输出端电性连接，第一运算放大器LM224的输出端与第一隔直电路的输入端电性连接。

3.如权利要求1所述的同步率测试装置，其特征在于：所述第一隔直电路包括电容C100和极性电容C101；

所述第一增益可调放大电路的输出端分别与电容C100的一端和极性电容C101的正极电性连接，电容C100的另一端和极性电容C101的负极均与差分放大器的第一输入端电性连接。

4.如权利要求3所述的同步率测试装置，其特征在于：所述差分放大器包括电阻R10-R13、电容C106、电容C107和第三运算放大器LM224；

所述电容C100的另一端和极性电容C101的负极均通过电阻R10分别与电阻R11的一端和第三运算放大器LM224的反相输入端电性连接，电阻R11的另一端与第三运算放大器LM224的输出端电性连接，电容C106并联在电阻R11的两端，第二隔直电路的输出端通过电阻R12分别与第三运算放大器LM224的同相输入端、电阻R13的一端和电容C107的一端电性连接，电阻R13的另一端和电容C107的另一端均接地，第三运算放大器LM224的输出端与CPU芯片的模拟输入端电性连接。

5.如权利要求1所述的同步率测试装置，其特征在于：所述信号调理电路还包括相干解调电路；

所述相干解调电路串联在差分放大器的输出端和CPU芯片的模拟输入端之间的线路中。

6.如权利要求5所述的同步率测试装置，其特征在于：所述信号调理电路还包括低通滤波电路；

所述低通滤波电路串联在相干解调电路的输出端和CPU芯片的模拟输入端之间的线路中。

7.如权利要求6所述的同步率测试装置，其特征在于：所述低通滤波电路包括电阻R14-R17、电容C108、电容C109和第四运算放大器LM224；

所述相干解调电路的输出端通过电阻R14分别与电阻R15的一端和电容C108的一端电性连接，电阻R15的另一端分别与第四运算放大器LM224的同相输入端和电容C109的一端电性连接，电容C109的另一端接地，第四运算放大器LM224的反相输入端分别与电阻R16的一端和电阻R17的一端电性连接，电阻R16的另一端接地，电容C108的另一端和电阻R17的另一端均与第四运算放大器LM224的输出端电性连接，第四运算放大器LM224的输出端与CPU芯片的模拟输入端电性连接。