[实用新型]一种基于分时式同轴照明成像的检测系统及分选机

说明书

本实用新型提供一种基于分时式同轴照明成像的检测系统及分选机，包括：图像采集单元用以采集产品图像；遮光体为经过喷黑处理的哑光金属箱体；半透半反分光镜的镜面上镀有反射率透射率均为50％的光学镀膜，用以改变光源模组出射光的传播方向并透过经待测物表面反射的反射光线；若干组光源模组用以提供分时式光源；光源模组驱动单元输出脉冲宽度调制信号驱动若干光源模组，每个时钟周期内，每组光源模组分别被点亮一次，解决了现有检测系统对于表面光滑容易出现镜面反射待测物容易出现漏检与误检的问题，同时采集多组不同角度照明下的图像数据的系统，增加缺陷与背景对比度，大大减少待测物表面瑕疵随机性造成的漏检或误检。

技术领域

本实用新型涉及机器视觉检测技术领域，尤其涉及一种适用于容易出现镜面反射待测物的分时式同轴照明成像的检测系统。

背景技术

机器视觉检测技术利用不同的光源、相机、信号处理系统以及剔除系统，正在各行各业大显身手。不同的机器视觉检测系统基本原理相似，即利用不同波段的光源对待测物进行照明，待测物的反射光线或透射光线经过选定的镜头成像于选定波段的相机传感器上，相机将采集到的数据经过模数转换发送给数据处理系统，处理系统经过设定的判定算法，将满足或不满足条件的目标物进行标记，并将目标物位置信息发送给剔除系统进行处理，此方式能较好的对一般待测物瑕疵信息、表面颜色信息或待测物大小、厚度等进行检测，但是对于一些表面光滑，容易出现镜面反射的待测物，如玻璃、光滑塑料片、金属板等待测物进行表面瑕疵检测时，若照明成像角度不佳，会导致最终的图像对比度不高，无法凸显出待测物表面瑕疵信息，从而出现漏检或误检问题。

实用新型内容

本实用新型公开的一种基于分时式同轴照明成像的检测系统，解决了现有检测系统对于表面光滑容易出现镜面反射待测物容易出现漏检与误检的问题，同时采集多组不同角度照明下的图像数据的系统，增加缺陷与背景对比度，大大减少了由于待测物表面瑕疵随机性造成的漏检或误检。

为达到上述目的，本实用新型的技术方案具体是这样实现的：

本实用新型一方面公开一种基于分时式同轴照明成像的检测系统，包括图像采集单元、遮光体、半透半反分光镜、光源模组、光源模组驱动单元，其中，图像采集单元用以采集产品图像；所述遮光体为经过喷黑处理的哑光金属箱体；所述半透半反分光镜的镜面上镀有反射率透射率均为50％的光学镀膜，用以改变光源模组出射光的传播方向并透过经待测物表面反射的反射光线；若干组所述光源模组用以提供分时式光源；所述光源模组驱动单元输出脉冲宽度调制信号驱动若干所述光源模组，每个时钟周期内，每组所述光源模组分别被点亮一次。

进一步地，所述光源模组包括LED灯条和柱透镜，其中，所述LED灯条上设置有灯珠，用于提供光源；柱透镜用以对所述LED灯条发射的光线进行整型和集聚。

进一步地，所述图像采集单元包括至少一个工业相机。

进一步地，所述工业相机的传感器为选定波段的线阵CCD或CMOS。

进一步地，所述LED灯条采用恒流驱动方式驱动。

进一步地，每个时钟周期内所述图像采集单元采集图像的次数与所述光源模组的组数相同。

进一步地，所述光源模组驱动单元包括CPLD器件。

本实用新型的另一方面公开一种分选机，包括如上所述的任意一种基于分时式同轴照明成像的检测系统。

有益技术效果：