[实用新型]一种轮廓度测量仪的测针架

说明书

本实用新型涉及量仪领域，具体涉及一种轮廓度测量仪的测针架。包括：测针架基体、连接杆、测针，其中连接杆为类Z字形，连接杆一端与测针架基体连接，连接杆另一端与测针连接。本实用新型能够实现对隐蔽的开槽、开孔等工件的测量。

技术领域

本实用新型涉及量仪领域，具体涉及一种轮廓度测量仪的测针架。

背景技术

随着现代工业技术的不断发展，各种各样的复杂零件的不断出现，对零件表面轮廓的测量，特别是大范围、高精度的测量需求也越来越迫切。根据测量原理的不同，一般可以将表面轮廓的测量仪分为两类：触针式轮廓测量仪和非触针式轮廓测量仪。由于触针式轮廓测量仪测量重复性好，测量范围大，测量结果稳定可靠以及测量精度较高，因此一直作为一种最基本而且被广泛使用的表面轮廓检测方法。然而，当触针式轮廓仪在进行轮廓测量时，测针由于结构限制导致有些工件不能达到满足检测的条件。

测针接触式轮廓仪是用测针接触扫描法测量工件表面二维形状的距离、角度、圆弧半径等参数的量仪。对于开槽、开孔等无法直接用测针接触测量的工件，由于轮廓测量仪的测针架结构受限，不能测量出图样给定的尺寸。测针接触式轮廓仪在测量低硬度材料的工件过程中容易出现测针划伤工件被测表面的现象。

实用新型内容

实用新型目的：提供一种轮廓度测量仪的测针架，以用于隐蔽的开槽、开孔等工件的测量。

技术方案：

本实用新型提供了一种轮廓度测量仪的测针架，包括：测针架基体、连接杆、测针，其中连接杆为类Z字形，连接杆一端与测针架基体连接，连接杆另一端与测针连接。

进一步地，连接杆包括主测杆、转接杆、副测杆，其中，转接杆一端与主测杆一端螺纹连接，转接杆另一端与副测杆一端螺纹连接，主测杆和副测杆，主测杆另一端与测针架基体连接，测针固定在副测杆另一端并且竖直向下。

进一步地，转接杆与主测杆和副测杆垂直。

进一步地，测针的针尖处为球形。

进一步地，测针架基体呈“Z”字形。

进一步地，主测杆上设置有测力调整砝码。

有益效果：本实用新型通过类Z字形连接杆，能够实现对隐蔽的开槽、开孔等工件的测量。

附图说明

图1为根据本实用新型实施例的一种轮廓度测量仪的测针架的示意图。

其中，测针架基体1，主测杆2，转接杆3，副测杆4，测针5，测力调整砝码6，螺母7。

具体实施方式

测针接触式轮廓仪是用测针接触扫描法测量工件表面二维形状的距离、角度、圆弧半径等参数的量仪。对于开槽、开孔等无法直接用测针接触测量的工件，由于轮廓测量仪的测针架结构受限，不能测量出图样给定的尺寸。测针接触式轮廓仪在测量低硬度材料的工件过程中容易出现测针划伤工件被测表面的现象。针对现有技术的缺陷，本实用新型目的是提供一种触针式轮廓仪测针架，实现对于开槽、开孔等工件进行测针接触式检测的目的。同时使轮廓度测量仪的测针达到最佳的接触条件。

本实用新型提供了一种轮廓度测量仪的测针架，包括：测针架基体、连接杆、测针，其中连接杆为类Z字形，连接杆一端与测针架基体连接，连接杆另一端与测针连接。

在本实用新型的可能的实施例中，连接杆包括主测杆、转接杆、副测杆，其中，转接杆一端与主测杆一端螺纹连接，转接杆另一端与副测杆一端螺纹连接，主测杆和副测杆，主测杆另一端与测针架基体连接，测针固定在副测杆另一端并且竖直向下。主测杆上设置有测力调整砝码。

优选地，转接杆与主测杆和副测杆垂直。

优选地，测针的针尖处为球形。

优选地，测针架基体呈“Z”字形。