[实用新型]一种校准系统

说明书

本实用新型公开一种校准系统，涉及检测技术领域，以便在校正测距仪时，使测距仪校正精度提高、使测距仪校正过程简便并且省时省力。该校准系统用于校准测距仪，该校准系统包括：与测距仪通信的控制器、校准平台以及与控制器通信的调距装置。校准平台具有参考基面，该参考基面为测距仪提供稳定的被测基面，对测量结果的准确性提供了保障。调距装置与控制器通讯连接，控制器可以控制调距装置，使得对测距仪的调节从人工调节转变为机器调节，使测距仪的调节过程更加精确。并且控制器获取调距装置的第一距离数据以及，获取测距仪的第二距离数据，可以通过数据比较获得测距仪所测数据的偏差具体是偏大、偏小或适中，最终可以根据该偏差对测距仪进行校准。

技术领域

本实用新型涉及检测技术领域，尤其涉及一种校准系统。

背景技术

测距仪是一种测量长度或者距离的工具。为了保证测距仪的测量精度，需要对其测量精度进行校准。

目前，对于测距仪精度的校准，为选定一个固定场地，在场地内设置起始测量点和被测靶，并以人工测量的方式确定起始测量点与被测靶的距离。之后通过测距仪测量起始测量点到被测靶的距离读数，比较该距离读数和被测靶的距离判断测距仪是否准确。

然而，采用人工校准测量的方式，其校准精度差，校准过程繁琐并费时费力。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种校准系统，以便在校正测距仪时，使测距仪校正精度提高、使测距仪校正过程简便并且省时省力。

为了实现上述目的，本实用新型提供一种校准系统，用于校准测距仪，该校准系统包括：与测距仪通信的控制器、校准平台以及与控制器通信的调距装置。校准平台具有参考基面。调距装置与测距仪固定连接，用于在控制器的控制下调节测距仪与参考基面之间的第一距离。其中，测距仪用于测量自身与参考基面之间的第二距离。控制器基于第一距离和第二距离，生成测距仪的校准方案。

与现有技术相比，本实用新型提供的校准系统中，包括校准平台以及与测距仪和调距装置通信的控制器。校准平台具有参考基面，该参考基面为测距仪提供稳定的被测基面，对测量结果的准确性提供了保障。调距装置与控制器通讯连接。本实用新型通过控制器控制调距装置，相对于现有技术中采用人工校准方式，可以使测距仪的调节过程更加精确。并且控制器可以根据获取的第一距离以及第二距离，准确的获得测距仪所测数据的偏差，根据该偏差生成测距仪的校准方案，相对于现有的人工校准方式，可以进一步的提高校准精确度。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本实用新型的进一步理解，构成本实用新型的一部分，本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的不当限定。在附图中：

图1为本实用新型实施例中一种校准系统的立体图；

图2为本实用新型实施例中一种校准系统的主要结构示意图。

附图标记：

1、校准平台， 2、参考基, 3、测距仪，

4、调距装置， 5、伺服电机， 6、安装座，

7、直线导轨, 8、支架， 9、水平调节机构，

10、温度湿度调节器。

具体实施方式

为了使本实用新型所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。