[实用新型]一种半导体产品测试装置

说明书

本实用新型公开一种半导体产品测试装置，属于半导体测试技术领域。所述半导体产品测试装置包括测试器本体和测试站，所述测试器本体和所述测试站之间通过导线连接；所述测试器本体正面固定连接有安装平台；所述安装平台远离所述测试器本体的一端通过AOI固定块固定连接有AOI监视器；所述安装平台靠近所述测试器本体的一端固定安装有显示屏；所述AOI监视器和所述显示屏均与所述测试器本体电连接。该半导体产品测试装置通过AOI监视器监测显示屏的波形图，实现自动筛选，替代传统人工测试，提高测试效率的同时，提高测试的准确率。

技术领域

本实用新型涉及半导体测试技术领域，特别涉及一种半导体产品测试装置。

背景技术

在半导体测试领域，通常为人工取放材料进行测试，观察测试器显示屏上显示的波形进行区分，速度约为5s/颗，效率低下，工人劳动强度大易出错。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种半导体产品测试装置，以解决现有的人工测试半导体效率低下，工人劳动强度大易出错的问题。

为解决上述技术问题，本实用新型提供一种半导体产品测试装置，包括测试器本体和测试站，所述测试器本体和所述测试站之间通过导线连接；

所述测试器本体正面固定连接有安装平台；

所述安装平台远离所述测试器本体的一端通过AOI固定块固定连接有AOI监视器；

所述安装平台靠近所述测试器本体的一端固定安装有显示屏；所述AOI监视器和所述显示屏均与所述测试器本体电连接。

可选的，所述安装平台上沿中线开有若干个调节槽，所述AOI固定块与所述调节槽通过螺栓固定连接。

可选的，所述AOI固定块及与其固定连接的AOI监视器与所述安装平台垂直连接。

可选的，所述安装平台上固定安装有遮光罩。

可选的，所述遮光罩从所述显示屏端开始延伸至所述AOI监视器。

在本实用新型中提供了一种半导体产品测试装置，包括测试器本体和测试站，所述测试器本体和所述测试站之间通过导线连接；所述测试器本体正面固定连接有安装平台；所述安装平台远离所述测试器本体的一端通过AOI固定块固定连接有AOI监视器；所述安装平台靠近所述测试器本体的一端固定安装有显示屏；所述AOI监视器和所述显示屏均与所述测试器本体电连接。该半导体产品测试装置通过AOI监视器监测显示屏的波形图，实现自动筛选，替代传统人工测试，提高测试效率的同时，提高测试的准确率。

附图说明

图1是本实用新型提供的一种半导体产品测试装置的整体结构示意图；

图2是本实用新型提供的一种半导体产品测试装置测试屏幕显示的波形图。

具体实施方式

以下结合附图和具体实施例对本实用新型提出的一种半导体产品测试装置作进一步详细说明。根据下面说明和权利要求书，本实用新型的优点和特征将更清楚。需说明的是，附图均采用非常简化的形式且均使用非精准的比例，仅用以方便、明晰地辅助说明本实用新型实施例的目的。

实施例一