[实用新型]一种带有加温结构的快闪记忆体测试设备

说明书

本实用新型涉及测试设备技术领域，具体涉及一种带有加温结构的快闪记忆体测试设备。所述测试箱两侧设有滑轨，滑轨的一端延伸出测试箱外，滑板设置在测试箱上方且与滑轨滑动连接，所述滑板上固定安装有下压装置，下压装置的下压端固定安装有用以按压测试盒的限位件下压板，测试盒上还设有用以盖住测试箱的加温盖，加温盖通过转轴与测试盒转动连接，所述加温盖内表面固定安装有加温器，当加温盖盖住测试箱时加温器与测试盒内的快闪记忆体贴合。本实用新型通过将滑轨延伸出测试箱外形成避让区，使得滑板在安装完快闪记忆体后能够移至避让区，使得加温盖能够与测试盒配合进行加温，在快闪记忆体测试的条件下提升测试温度，达到高温测试的目的。

技术领域

本实用新型涉及测试设备技术领域，具体涉及一种带有加温结构的快闪记忆体测试设备。

背景技术

快闪记忆体的英文名称是Flash Memory，一般简称为Flash，它属于内存器件的一种。对于快闪记忆体的测试，我司之前有研发一种半自动式快闪记忆体测试设备，该种测试设备结构简单，成本较低，适合中小企业进行购买测试，在使用过程中客户有反应一些意见，对于一些高温环境下使用的快闪记忆体需要在检测时进行耐高温测试，现有的快闪记忆体测试设备无法满足测试条件，一代的快闪记忆体测试设备无法满足使用要求，因此，我们在一代快闪记忆体测试设备基础上研制一种能够进行耐高温测试的快闪记忆体测试设备。

实用新型内容

本实用新型的目的是克服现有技术的不足和缺陷，提供一种提供高温测试的带有加温结构的快闪记忆体测试设备。

本实用新型的目的是通过以下技术方案来实现的：

一种带有加温结构的快闪记忆体测试设备，包括：测试箱、带有测试槽的测试盒、滑板、下压板、下压装置，所述测试箱顶部设有多个容纳槽，所述容纳槽内的测试箱上均布有多个测试盒，所述测试箱两侧设有滑轨，滑轨的一端延伸出测试箱外，滑板设置在测试箱上方且与滑轨滑动连接，所述滑板上固定安装有下压装置，下压装置的下压端固定安装有用以按压测试盒的限位件下压板，所述滑板上设有压孔，所述下压板穿过压孔压住测试盒，测试盒上还设有用以盖住测试箱的加温盖，加温盖通过转轴与测试盒转动连接，所述转轴与滑轨垂直设置，转轴设置在远离滑轨延伸出测试箱的一端，所述加温盖内表面固定安装有加温器，当加温盖盖住测试箱时加温器与测试盒内的快闪记忆体贴合。

具体的，所述下压装置包括：下压座，手压杆、下压杆，所述手压杆与下压座通过转轴转动连接，所述下压座内固定安装有导块，所述导块上设有导孔，所述下压杆穿过导孔，所述下压杆设置在转轴一侧的手压杆正下方，所述导块上的下压杆上套设有压缩弹簧，所述下压杆上固定设有限位块，压缩弹簧一端抵住导块，另一端抵住限位块，所述下压杆下端与下压板固定连接。

具体的，所述测试盒的测试槽两侧的测试盒上设有按压槽，两侧的按压槽呈“八”字型设置，按压槽内设有按压杆，按压杆部分伸出按压槽，所述按压杆底部设有按压弹簧，所述下压板与按压杆接触，所述测试槽底部设有检测引脚。

具体的，测试箱内设有检测器，检测器与检测引脚电性连接，所述测试箱上设有检修门，所述检修门上设有散热风扇。

具体的，所述加温盖内还设有温度传感器，温度传感器与检测器电性连接。

具体的，所述测试箱一侧设有控制箱，控制箱上设有控制面板。

具体的，所述加温盖内表面设有容纳槽，所述加温器均布在容纳槽内，容纳槽内表面设有保温棉。

具体的，所述加温盖上还设有两个的缺口，当加温盖与测试盒配合时滑轨放置在缺口上。

本实用新型相比现有技术包括以下优点及有益效果：

(1)本实用新型通过将滑轨延伸出测试箱外形成避让区，使得滑板在安装完快闪记忆体后能够移至避让区，使得加温盖能够与测试盒配合进行加温，滑板不会对加温盖产生干涉作用，在快闪记忆体测试的条件下提升测试温度，达到高温测试的目的。