[实用新型]一种半导体模具零件的检测治具

权利要求书

1.一种半导体模具零件的检测治具，包括底座(1)、安装立杆(2)、检测探头(4)和定位组件(5)，所述安装立杆(2)垂直固定在底座(1)上表面，所述检测探头(4)与安装立杆(2)滑动连接，其特征在于：所述定位组件(5)可拆卸式安装在底座(1)顶部，所述定位组件(5)包括固定板(51)、双向螺杆(52)、定位架(53)和限位杆(54)，两个“U”型的所述定位架(53)套设在底座(1)顶部，且端部延伸至底座(1)前后表面，所述固定板(51)通过螺钉固定在底座(1)前表面，所述双向螺杆(52)转动安装在固定板(51)内，且两端与定位架(53)转动连接，两个所述限位杆(54)垂直固定在固定板(51)侧面，且端部活动穿过定位架(53)露在外侧。

2.根据权利要求1所述的一种半导体模具零件的检测治具，其特征在于：所述双向螺杆(52)与固定板(51)通过设置的轴承连接，所述定位架(53)与双向螺杆(52)螺纹旋合连接，所述双向螺杆(52)两端部分别固定有限位板和手轮。

3.根据权利要求1所述的一种半导体模具零件的检测治具，其特征在于：所述底座(1)顶部放置有加工件(6)，所述加工件(6)位于两个定位组件(5)之间，所述定位架(53)内表面固定有与加工件(6)表面接触的橡胶垫。

4.根据权利要求1所述的一种半导体模具零件的检测治具，其特征在于：所述定位架(53)包括上活动板(531)、下螺母板(532)和限位螺栓(533)，所述上活动板(531)为“U”型，且开口端沿其高度设置有矩形缺口，所述下螺母板(532)上端位于矩形缺口中，下端位于底座(1)前后表面，所述上活动板(531)端部沿其长度设置有限位孔。

5.根据权利要求4所述的一种半导体模具零件的检测治具，其特征在于：所述限位螺栓(533)一端露在上活动板(531)外侧，另一端穿过限位孔伸进下螺母板(532)表面设置的卡槽中。

6.根据权利要求1所述的一种半导体模具零件的检测治具，其特征在于：所述定位架(53)后端安装有稳固组件(7)，所述稳固组件(7)包括活动杆(71)、滚珠(72)和滑槽(73)，所述底座(1)后表面沿其长度设置有滑槽(73)，所述活动杆(71)一端垂直穿过定位架(53)位于滑槽(73)中。

7.根据权利要求6所述的一种半导体模具零件的检测治具，其特征在于：所述滚珠(72)安装在活动杆(71)端部，且与滑槽(73)槽底滚动接触，所述活动杆(71)与定位架(53)螺纹旋合连接。

8.根据权利要求1所述的一种半导体模具零件的检测治具，其特征在于：所述安装立杆(2)表面活动安装有显示仪(3)，所述检测探头(4)安装在显示仪(3)侧面。