[实用新型]一种基于重入式同轴腔的可调频复介电常数测试系统有效
申请号: | 202022579844.X | 申请日: | 2020-11-10 |
公开(公告)号: | CN213934026U | 公开(公告)日: | 2021-08-10 |
发明(设计)人: | 彭亦童;李恩;李灿平;陈天润;郭浩东 | 申请(专利权)人: | 成都恩驰微波科技有限公司 |
主分类号: | G01R27/26 | 分类号: | G01R27/26 |
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地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 重入式 同轴 调频 介电常数 测试 系统 | ||
1.一种基于重入式同轴腔的可调频复介电常数测试系统,其特征在于包括调频模块与微波测试模块;所述调频模块包括环状介质扰动块1、夹持杆2、环形夹具3、滑块4、导轨5、步进电机6;所述微波测试模块包括重入式同轴腔、耦合旋转调节器(7a,7b)、幅相测试模块8、程控计算机9;耦合旋转调节器(7a,7b)通过微波同轴传输线(14a,14b)与幅相测试模块8相连接,步进电机6通过串口线16与程控计算机9相连,重入式同轴腔包括侧壁开缝的外导体10,与外导体同心配合顶部开孔的内导体11,含有样品测试孔的上端盖12,下端盖13;程控计算机(9)通过数据传输线15发送控制指令给幅相测试模块8,设置其发生信号的频率范围、点数以及功率,并将测试得到的频点信息返回给程控计算机9;程控计算机9通过串口线16控制步进电机6调节滑块4的上下移动,带动滑块4所引导的环状介质扰动块在重入式同轴腔中的上下移动,调节频率。
2.根据权利要求1所述的基于重入式同轴腔的可调频复介电常数测试系统,其特征在于:可通过外部控制内部扰动块的上下移动,调整腔体固有的谐振频点,对材料进行测试。
3.根据权利要求1所述的基于重入式同轴腔的可调频复介电常数测试系统,其特征在于:环状介质扰动块与夹持杆均为非金属低损耗材料。
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