[实用新型]LED显示背板的检测电路及LED显示面板

说明书

一种LED显示背板的检测电路及LED显示面板，包括多个像素电路、多个第一薄膜晶体管、第二LED芯片和驱动电路，多个像素电路呈M行、N列阵列排布，M、N为大于等于1的正整数；多个第一薄膜晶体管与像素电路连接；第二LED芯片通过检测走线与一行上的多个第一薄膜晶体管对应连接；开关驱动电路通过开关走线与一列上的多个第一薄膜晶体管对应连接。通过在LED显示背板上设置检测电路，由开关驱动电路驱动第一薄膜晶体管导通以连通像素电路和第二LED芯片，通过观察第二LED芯片是否点亮即可判断LED显示背板上的坏点所在位置，从而可以在巨量转移之前检测出LED显示背板的像素电路是否损坏并能够快速准确地判断出坏点所在位置。

技术领域

本实用新型涉及显示技术领域，尤其涉及一种LED显示背板的检测电路及LED显示面板。

背景技术

Micro-LED是将LED结构进行薄膜化、微小化、阵列化，尺寸缩小到1～10μm左右，通过巨量转移到基板上后再利用物理沉积完成保护层和电极，之后进行封装完成Micro-LED的显示。Micro-LED显示器具有良好的稳定性、使用寿命长，同时也承继了LED低功耗、色彩饱和度高、反应速度快、对比度强等优点,在穿戴设备、超大显示屏幕、无线光通讯等领域都有广泛应用。

Micro-led显示面板在制作过程中需要先将LED芯片从各自的生长基板转移到显示面板上。但是，如果任一LED芯片出现损坏或接触不良的情况，经转移后，将会在显示面板上呈现一个坏点，影响成像效果。目前针对Micro-LED显示背板驱动电路的结构只适用于等巨量转移之后点亮LED芯片，通过检测LED芯片的出射光束来检测出坏点的所在位置。但是有些时候，坏点出现的原因不是LED芯片的问题，而是显示背板存在损坏，导致LED芯片无法点亮。

实用新型内容

鉴于上述现有技术的不足，本申请的目的在于提供一种LED显示背板的检测电路及LED显示面板，旨在巨量转移之前检测出LED显示背板上的坏点所在位置。

本申请提供一种LED显示背板的检测电路，包括多个像素电路，多个所述像素电路呈M行、N列的阵列排布，其中，M、N为大于等于1的正整数，所述像素电路用于与第一LED芯片键合；多个第一薄膜晶体管，所述第一薄膜晶体管与所述像素电路连接；第二LED芯片，所述第二LED芯片通过检测走线与一行上的多个所述第一薄膜晶体管对应连接；以及开关驱动电路，所述开关驱动电路通过开关走线与一列上的多个所述第一薄膜晶体管对应连接；其中，当所述像素电路运行时，所述开关驱动电路逐列向所述第一薄膜晶体管传输开关驱动信号，以驱动所述像素电路连通所述第二LED芯片，并根据所述第二LED芯片是否点亮判断对应的所述像素电路是否异常。

通过在LED显示背板上设置开关驱动电路、第一薄膜晶体管和第二LED芯片，使第一薄膜晶体管和像素电路连接，开关驱动电路通过开关走线与第一薄膜晶体管连接，第二LED芯片通过检测走线和第一薄膜晶体管连接，由开关驱动电路逐列驱动第一薄膜晶体管导通，从而连通像素电路和第二LED芯片，通过观察第二LED芯片是否点亮即可判断LED显示背板上像素电路是否损坏。这种检测电路可以在巨量转移之前检测出LED显示背板的像素电路是否损坏，并且能够快速准确地判断出坏点所在位置。

一种实施方式中，所述第一薄膜晶体管的栅极与所述开关走线连接，所述第一薄膜晶体管的源极与所述检测走线连接，所述第一薄膜晶体管的漏极与所述像素电路连接。通过设置第一薄膜晶体管的栅极与开关走线连接，源极与检测走线连接，漏极与像素电路连接的电路结构，可以达到当开关走线向第一薄膜晶体管的栅极输入开关信号使第一薄膜晶体管的源极和漏极导通时，像素电路与检测走线连通，进一步地，通过检测走线将第二LED芯片与像素电路连通的目的。

一种实施方式中，所述第二LED芯片的正电极与所述检测走线连接，所述第二LED芯片的负电极接地。通过使第二LED芯片的正电极与所述检测走线连接，第二LED芯片的负电极接地，当第二LED芯片点亮时即表示检测走线向第二LED芯片输入了电压或电流，进一步可以判断出与检测走线连接的电路没有损坏。