[实用新型]一种基于图像识别的测量和定位装置有效
申请号: | 202022589020.0 | 申请日: | 2019-09-30 |
公开(公告)号: | CN214308595U | 公开(公告)日: | 2021-09-28 |
发明(设计)人: | 李怀东 | 申请(专利权)人: | 上海翊威半导体有限公司 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00;G01B11/14 |
代理公司: | 上海硕力知识产权代理事务所(普通合伙) 31251 | 代理人: | 郭桂峰 |
地址: | 200120 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 图像 识别 测量 定位 装置 | ||
本实用新型公开了一种基于图像识别的测量和定位装置,其中,测量和定位装置包括图像识别装置,其中图像识别装置包括光学摄像头,通过光学摄像头识别待测点或待定位点对应的信号,并根据光敏元件与基准坐标系之间的映射关系,换算出待测点或待定位点实际的坐标信息,根据坐标信息,实现测量和定位的目的。
本申请是提交于2019年9月30日,名称为“一种基于图像识别的测量和定位装置”,申请号为201921704421.7的中国实用新型专利申请的分案。
技术领域
本实用新型涉及测距及定位技术领域,具体涉及基于图像识别的测量和定位装置。
背景技术
现有的测距仪产品测距时需要通过点对点单次进行测量或定位。实施具体测量或定位步骤时,首先,在被测物体表面上找到基准点和目标点,其次,将测量设备放置到基准点上,通过手工丈量或者根据光学时间换算成距离的方式找到目标点,从而完成整个测量过程。对于需要有多次测量才能完成的测量和定位的任务,需要多次重复上述测量过程,通过现有技术,反复测量不仅容易造成测量误差大,测量或定位时间长,效率低等缺点,而且容易导致产生较高的人工成本。
实用新型内容
为了解决当前测距及定位方法上的测量或定位时间长、效率低及人工成本高等缺陷,本实用新型提供一种基于图像识别的方法及装置来实现快速测距和定位的目标。
根据本实用新型的一个方面,提供基于图像识别的测量方法,该方法包括以下步骤:
在基准平面内设定至少三个测量基准点,并利用图像识别装置获取基准平面的基准图像信息;其中所述至少三个测量基准点在所述基准平面内构成封闭的二维图形,所述基准图像信息包含了所述三个测量基准点的位置信息和所述二维图形的尺寸信息;
在所述图像识别装置中利用所述基准图像信息建立基准坐标系,所述基准坐标系与所述图像识别装置中的光敏元件阵列之间具有映射关系;
在所述基准平面内,标记第一待测点和第二待测点;
利用所述图像识别装置获取所述第一待测点和所述第二待测点在所述光敏元件阵列中的位置信息;
将所述第一待测点和所述第二待测点在所述光敏元件阵列中的位置信息映射到所述基准坐标系中,并计算出所述第一待测点和所述第二待测点之间的距离。
优选地,所述基准平面,包括:墙面、天花板、或者地面。
优选地,所述在基准平面内设定至少三个测量基准点的步骤,包括:在所述基准平面内设定四个测量基准点。
优选地,所述在基准平面内设定四个测量基准点的步骤,包括:在矩形墙面设定四个墙角为所述四个测量基准点。
优选地,所述利用图像识别装置获取基准平面的基准图像信息的步骤,包括:所述图像识别装置通过识别所述四个测量基准点所在位置的光学信号或图案标识获取所述四个测量基准点的位置信息。
优选地,所述图像识别装置通过识别所述四个测量基准点所在位置的光学信号获取所述四个测量基准点的位置信息的步骤,包括:所述光学信号通过标识装置发出,所述标识装置在所述基准平面内能够任意移动。
优选地,所述图像识别装置通过识别所述四个测量基准点所在位置的光学信号获取所述四个测量基准点的位置信息的步骤,包括:所述光学信号通过投射装置投射激光点到所述基准平面内,所述投射装置集成在所述图像识别装置上或者所述投射装置是独立于所述图像识别装置之外的。
优选地,所述利用图像识别装置获取基准平面的基准图像信息中的所述四个测量基准点的位置信息的步骤,包括:所述图像识别装置通过识别所述四个测量基准点所在位置的图案标识获取所述四个测量基准点的位置信息,其中,所述图案标识不能主动发出光学信号。
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