[实用新型]弱信号的输入检测电路

说明书

本实用新型属于检测电路技术领域，尤其是涉及弱信号的输入检测电路。光耦合器的1号引脚与电阻三连接后与供电极连接；光耦合器的2号引脚与三极管的集电极连接；三极管的基极与电阻一连接后与弱信号输入端连接；所述的三极管的基极与发射极之间并联有电阻二，且三极管的发射极接地；所述的光耦合器的3号引脚接地；光耦合器的4号引脚分别与信号输出端、电阻四连接，且电阻四的另一端与供电端连接，其中，信号输出端与基础检测电路的输入端连接。它可以把弱的电压信号接到三极管的基极转换成为强的电压信号，就可以实现弱电流控制大电流来驱动TTL芯片，并且可以不影响信号的输入频率。

技术领域

本实用新型属于检测电路技术领域，尤其是涉及弱信号的输入检测电路。

背景技术

因为测试的需要有时候需要把外部的一些弱电流信号进行检测，又因为信号十分微弱所以容易受到外部影响或者驱动了能力不足造成检测的不去定性；主要就是外部输入的电信号直接输入到TTL电平转换芯片内，在输出相反的电平信号。

但是需要注意的是，所输入的低电压信号能不能驱动TTL芯片，如果电流太弱是无法驱动的了的，所以是输出不了低电压的。参看图1，TTLx都是外部输入的信号，如果电流驱动能力不够，就无法在 MCU-TTL-IN-X端输出电压。

实用新型内容

为解决现有技术的缺陷和不足问题；本实用新型的目的在于一种结构简单，设计合理、使用方便的弱信号的输入检测电路,它可以把弱的电压信号接到三极管的基极转换成为强的电压信号，就可以实现弱电流控制大电流来驱动TTL芯片，并且可以不影响信号的输入频率。

为实现上述目的，本实用新型采用的技术方案是：它包含光耦合器、电阻一到电阻四、三极管、基础检测电路；光耦合器的1号引脚与电阻三连接后与供电极连接；光耦合器的2号引脚与三极管的集电极连接；三极管的基极与电阻一连接后与弱信号输入端连接；所述的三极管的基极与发射极之间并联有电阻二，且三极管的发射极接地；所述的光耦合器的3号引脚接地；光耦合器的4号引脚分别与信号输出端、电阻四连接，且电阻四的另一端与供电端连接，其中，信号输出端与基础检测电路的输入端连接。

作为优选，所述的基础检测电路A由TTL芯片、电容一到电容四、电阻十一到十四组成；所述的TTL芯片的各输入端与接地端之间分别并联有电容一、电容二、电容三、电容四；TTL芯片的各输出端分别与电阻十一、电阻十二、电阻十三、电阻十四串联后输出。

作为优选，所述的光耦合器的导通速率与输入信号的频率保持匹配。

作为优选，所述的TTL芯片为74HC14D单片机。

采用上述结构后，本实用新型有益效果为：它可以把弱的电压信号接到三极管的基极转换成为强的电压信号，就可以实现弱电流控制大电流来驱动TTL芯片，并且可以不影响信号的输入频率。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，本实用新型由下述的具体实施及附图作以详细描述。

图1为本实用新型的背景技术附图；

图2为本实用新型的结构示意图；

附图标记说明：光耦合器OP1、电阻一到电阻四R1-R4、三极管 Q1。

具体实施方式

为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚明了，下面通过附图中示出的具体实施例来描述本实用新型。但是应该理解，这些描述只是示例性的，而并非要限制本实用新型的范围。此外，在以下说明中，省略了对公知结构和技术的描述，以避免不必要地混淆本实用新型的概念。

在此，还需要说明的是，为了避免因不必要的细节而模糊了本实用新型，在附图中仅仅示出了与根据本实用新型的方案密切相关的结构和/或处理步骤，而省略了与本实用新型关系不大的其他细节。