[实用新型]一种转接测试座

说明书

本实用新型公布了一种转接测试座，该测试微针座包括测试治具和转接组，所述测试治具具有定位被测物的放置框和与被测物电路接点电连接的测试针组；所述转接组与所述测试治具之间设置有弹性支撑件，当所述测试治具施加荷载时，所述转接组与所述测试针组电性连接，且所述弹性支撑件对所述测试治具施加使所述转接组与所述测试针组分离的弹性力；本实用新型提出一种转接测试座，解决现有技术作业时间长、使用寿命短、接触性差、维护困难的问题。

技术领域

本申请涉及测试领域，具体是涉及一种转接测试座。

背景技术

目前，在3C类电子产品(手机、相机、笔记本)等电子部件模块中，使用了测试针的测试装置，这种测试装置均用于将待测物向下压至测试座 (Socket)上，使待测物上的电路接点(Lead或Pad)可与测试座中的测试探针(Probe Pin)实现电性连接。

然而，现有技术中的测试探针需要以人工拉线焊针的方式来连接信号，植线作业的时间较长，另一方法是通过焊接导线或PFC连接器连接至外部测试设备，但在测试时导线或PFC连接器转接可能在长时间上下伸缩过程中造成折断或挂伤、或造成拉断等现象，不仅影响其使用寿命，而且维护作业困难度将大幅提升，对此，现有技术人员有必要针对这一现象提出改进，以解决上述问题。

发明内容

本实用新型的目是针对上述问题，提出了一种转接测试座，解决现有技术中作业时间长、使用寿命短、接触性差、维护困难的问题。

为实现上述目的，本实用新型提出了一个示例的转接测试座，该测试座包括：

测试治具，其上具有定位被测物的放置框和与被测物电路接点电连接的测试针组；以及

转接组，所述转接组与所述测试治具之间设置有弹性支撑件，当所述测试治具施加荷载时，所述转接组与所述测试针组电性连接，且所述弹性支撑件对所述测试治具施加使所述转接组与所述测试针组分离的弹性力。

进一步地，所述测试治具包括：

定位座，所述定位座上设置有所述放置框，所述放置框内设置有设有数个定位孔；以及

与定位座弹性连接的固定座，所述固定座具有用于收纳所述测试针组的收纳腔，所述测试针组设于所述收纳腔内，其朝所述定位孔一侧具有伸入所述定位孔与被测物电路接点进行电路连接的第一触点，在另一侧具有与上针板电路连接的第二触点，所述上针板连接所述固定座，其朝所述转接组的一侧设有数个用于与转接组电连接的数个第一导电槽。

进一步地，在所述固定座的腔体内配置有装夹所述测试针组的隔离板，使接触待测物各电路接点的测试针彼此绝缘。

进一步地，所述隔离板的板面上具有放置测试针组的配置槽，所述配置槽的数量为两个，沿隔离板中线对称设置。

进一步地，所述的转接组包括：

下针板，其具有数个第二导电槽和分别与所述第二导电槽通电连接的电连接部，所述第二导电槽上设有与第二导电槽通电连接的导电弹片，所述导电弹片与所述第一导电槽正对设置，用于与所述第一导电槽电连接；

转接座，所述转接座对应电连接部开设数个通孔；以及

插件母座，所述插件母座设有伸入所述通孔的导电柱和用于连接PCB 转接板的插槽。

进一步地，所述导电柱为方形。

进一步地，所述导电柱为圆形。

与现有技术相比，本实用新型提供的一种转接测试座，能通过信号转接组与测试治具中的测试针组设置成彼此相连的电连接关系，取代传统以人工拉线焊针的方式或通过焊接导线或PFC连接器的方式来连接信号，进而可以避免中间环节引线带来的维护不便的问题，以达到高效率、高精准测试和高使用寿命的目的；本实用新型的其它有益效果，在具体实施方式中进一阐明。