[实用新型]一种老化测试板及其老化测试架

说明书

本实用新型公开了一种老化测试板及其老化测试架，包括老化测试板体和定位凹槽，所述老化测试板体的前表面设置有控温板体，且控温板体的外侧设置有插口组，所述老化测试板体的内侧开设有散热口，且老化测试板体的左右两侧均开设有定位滑块，所述定位凹槽开设于定位滑块的外侧上端，且定位凹槽的内部设置有固定卡块，所述固定卡块的上端连接有定位转轴，且固定卡块的外侧固定有限位杆，所述限位杆的外侧设置有测试架体，且测试架体的下端固定有支撑柱。该老化测试板及其老化测试架通过设置的散热口能够使得老化测试板体具有良好的散热效果，避免控温板体工作时释放热量较多而坏损，并且设置的防水透气膜可以避免使用时灰尘进入散热口内。

技术领域

本实用新型涉及电子技术领域，具体为一种老化测试板及其老化测试架。

背景技术

电子器件是指在真空、气体或固体中，利用和控制电子运动规律而制成的器件。分为电真空器件、充气管器件和固态电子器件。在模拟电路中作整流、放大、调制、振荡、变频、锁相、控制、相关等作用，集成电路老化板上装有可更换的条件板,以便对各种集成电路进行老化.对正在老化的集成电路可同时进行检测(采用示波器加电流表同时观察输出波形和电流值).适用于对各种电子元器件进行老化和寿命试验以及质量分析的场合。

市场上的老化测试板及其老化测试架使用时虽能够进行散热但散热的效率低，若长时间放置时会有灰尘进入老化测试板内，从而使其使用寿命降低，并且老化测试架对老化测试板定位不便，使用时老化测试板灰尘出现偏移或掉落的问题，为此，我们提出一种老化测试板及其老化测试架。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种老化测试板及其老化测试架，以解决上述背景技术中提出的市场上的老化测试板及其老化测试架使用时虽能够进行散热但散热的效率低，若长时间放置时会有灰尘进入老化测试板内，从而使其使用寿命降低，并且老化测试架对老化测试板定位不便，使用时老化测试板灰尘出现偏移或掉落的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种老化测试板及其老化测试架，包括老化测试板体和定位凹槽，所述老化测试板体的前表面设置有控温板体，且控温板体的外侧设置有插口组，所述老化测试板体的内侧开设有散热口，且老化测试板体的左右两侧均开设有定位滑块，所述定位凹槽开设于定位滑块的外侧上端，且定位凹槽的内部设置有固定卡块，所述固定卡块的上端连接有定位转轴，且固定卡块的外侧固定有限位杆，所述限位杆的外侧设置有测试架体，且测试架体的下端固定有支撑柱。

优选的，所述控温板体沿着老化测试板体的前表面均匀分布，且散热口贯穿于老化测试板体的前表面，并且散热口的内侧设置有防水透气膜，同时防水透气膜与散热口之间的连接方式为固定连接。

优选的，所述老化测试板体的内壁设置有石墨纤维层，且石墨纤维层与老化测试板体之间紧密贴合。

优选的，所述定位滑块关于老化测试板体的竖直中心线对称，且定位凹槽沿着定位滑块的外表面均匀分布，并且定位凹槽与固定卡块之间构成卡合结构，同时固定卡块与定位转轴之间构成转动结构。

优选的，所述限位杆的外侧设置有定位弹簧，且限位杆通过定位弹簧与固定卡块之间构成弹性结构。

优选的，所述支撑柱关于测试架体的竖直中心线对称，且支撑柱的外侧设置有定位杆，并且定位杆与支撑柱之间构成三角形结构。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

该老化测试板及其老化测试架通过设置的散热口能够使得老化测试板体具有良好的散热效果，避免控温板体工作时释放热量较多而坏损，并且设置的防水透气膜可以避免使用时灰尘进入散热口内；

通过设置的石墨纤维层可以进一步对老化测试板体进行散热，避免使用时老化测试板体过热而坏损，通过设置的定位滑块能够对老化测试板体进行限位，并且设置的定位凹槽与固定卡块能够进一步对老化测试板体进行固定，避免使用时老化测试板体出现偏移或晃动而影响其后续正常使用；