[实用新型]一种双激光对射式厚度检测机构

说明书

本实用新型提供的一种双激光对射式厚度检测机构，包括上调节模块、固定在所述上调节模块输出端的上激光头、下调节模块、固定在所述下调节模块输出端的下激光头、以及位于所述上激光头与所述下激光头之间的产品夹持模块，所述上激光头与所述下激光头相对设置，所述产品夹持模块包括支撑板、固定在所述支撑板上的底板、位于所述底板上侧的盖板，所述底板与所述盖板上均开设有若干避让孔。本实用新型的双激光对射式厚度检测机构，设置有上激光头和下激光头，利用上激光与下激光的配合测量出键盘支架弯折部的厚度，减少了测量误差，提高了测量精度。

技术领域

本实用新型涉及激光测量技术领域，具体涉及一种双激光对射式厚度检测机构。

背景技术

键盘支架是键盘中的一个重要部件，是由合金板经过裁切、冲压后制成，其结构如图1～2所示，键盘支架6中具有多个小孔61，小孔内侧具有向下凹陷的弯折部62。通常经过冲压后的键盘支架6，需要进行小孔尺寸测试以及弯折部的厚度测试，常规的弯折部的厚度测试手段是先将键盘支架6反放在检测设备的激光头下方，直接通过激光头测试弯折部的高度，由于键盘支架6的厚度较薄，测试过程中键盘支架6容易变形，即键盘支架6的底部并不在同样水平面上，极易产生测量误差。

实用新型内容

针对以上问题，本实用新型提供一种双激光对射式厚度检测机构，设置有上激光头和下激光头，利用上激光与下激光的配合测量出键盘支架弯折部的厚度，减少了测量误差，提高了测量精度。

为实现上述目的，本实用新型通过以下技术方案来解决：

一种双激光对射式厚度检测机构，包括上调节模块、固定在所述上调节模块输出端的上激光头、下调节模块、固定在所述下调节模块输出端的下激光头、以及位于所述上激光头与所述下激光头之间的产品夹持模块，所述上激光头与所述下激光头相对设置，所述产品夹持模块包括支撑板、固定在所述支撑板上的底板、位于所述底板上侧的盖板，所述底板与所述盖板上均开设有若干避让孔。

具体的，所述上调节模块包括上安装板、与所述上安装板滑动连接的上滑块、位于所述上安装板一侧的侧板、固定在所述侧板上的千分尺旋钮，所述上滑块为所述上调节模块的输出端，所述上激光头固定在所述上滑块一端，所述千分尺旋钮的输出轴靠向所述上滑块一侧设置，所述上滑块远离所述千分尺旋钮一端还连接有弹簧，所述弹簧另一端与所述上安装板固定连接，所述上安装板上设有沿x轴方向的上滑槽，所述上滑块活动于所述上滑槽内侧。

具体的，所述下调节模块包括下安装板、与所述下安装板滑动连接的下滑块，所述下滑块为所述下调节模块的输出端，所述下激光头固定在所述下滑块一端，所述下安装板上设有沿y轴方向的下滑槽，所述下滑块活动于所述下滑槽内侧，所述下安装板上设有第一条形孔，所述下滑块上设有与所述第一条形孔位置相对应的螺孔，所述下安装板与所述下滑块通过螺丝与所述螺孔的配合固定。

具体的，所述盖板两端还设有第二条形孔。

具体的，所述支撑板有两个，两个所述支撑板分别固定在所述底板下端，两个所述支撑板之间形成一个测试避让区。

本实用新型的有益效果是：

本实用新型的双激光对射式厚度检测机构，设置了产品夹持模块，产品夹持模块包括支撑板、底板、盖板，键盘支架放置在底板与盖板之间，测量时，键盘支架位于上激光头与下激光头之间，利用上激光与下激光的配合测量出键盘支架弯折部的厚度，减少了测量误差，提高了测量精度。

附图说明

图1为键盘支架的结构示意图。

图2为图1中B部分的放大图。

图3为本实用新型的一种双激光对射式厚度检测机构的立体结构图。

图4为本实用新型的一种双激光对射式厚度检测机构的主视图。

图5为图4中A-A面的剖面图。