[实用新型]检测电路及装置

说明书

本实用新型公开了一种检测电路及装置，属于检测技术领域。本实用新型的检测电路包括通信模块、主控模块和检测模块，主控模块用于输出控制指令；通信模块分别连接主控模块和待测设备，通信模块用于根据控制指令控制待测设备的继电器的开闭状态，检测模块分别连接主控模块和待测设备，检测模块用于检测继电器的开闭状态。这种检测电路能够对继电器的正常通断进行快速检测，操作简单，提高了检测效率。

技术领域

本实用新型涉及检测技术领域，尤其涉及一种检测电路及装置。

背景技术

目前，对继电器的正常通断进行检测往往需要多个步骤依次执行，操作复杂，影响检测效率，因此，如何对继电器的正常通断进行快速检测，从而提高检测效率，成为了亟待解决的问题。

实用新型内容

本实用新型旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本实用新型提出一种检测电路，能够对继电器的正常通断进行快速检测，操作简单，提高了检测效率。

本实用新型还提出一种具有上述检测电路的检测装置。

根据本实用新型的第一方面实施例的检测电路，包括：

主控模块，所述主控模块用于输出控制指令；

通信模块，所述通信模块分别连接所述主控模块和待测设备，所述通信模块用于根据所述控制指令控制待测设备的继电器的开闭状态；

检测模块，所述检测模块分别连接所述主控模块和所述待测设备，所述检测模块用于检测所述继电器的开闭状态。

根据本实用新型实施例的检测电路，至少具有如下有益效果：这种检测电路通过主控模块输出控制指令，使得通信模块根据控制指令控制继电器进行打开或者关闭，从而检测模块对继电器能否正常通断进行检测，操作简单，能够实现对继电器的快速检测，提高了检测效率。

根据本实用新型的一些实施例，所述通信模块包括：

第一芯片，所述第一芯片分别连接所述主控模块和所述待测设备，所述第一芯片用于根据所述控制指令控制所述继电器的开闭状态。

根据本实用新型的一些实施例，所述主控模块包括：

MCU芯片，所述MCU芯片分别连接所述检测模块和所述通信模块，所述MCU芯片用于输出控制指令到所述通信模块，所述MCU芯片还用于识别检测结果。

根据本实用新型的一些实施例，所述检测模块包括：

第一电阻，所述第一电阻的第一端连接电源的正极端，所述第一电阻的第二端连接所述MCU芯片；

电容，所述电容的第一端分别连接所述第一电阻的第二端、所述MCU芯片，所述电容的第二端接地；

光电耦合器，所述光电耦合器的集电极分别连接所述第一电阻的第二端，所述MCU芯片，所述电容的第一端，所述光电耦合器的发射极分别连接所述电容的第二端和接地，所述光电耦合器的正极连接所述待测设备的正极输出端，所述光电耦合器的负极连接所述待测设备的负极输出端；

二极管，所述二极管的阳极分别连接所述光电耦合器的正极和所述待测设备的正极输出端，所述二极管的阴极分别连接所述光电耦合器的负极和所述待测设备的负极输出端；

第二电阻，所述第二电阻的第一端连接所述待测设备的负极输出端，所述第二电阻的第二端分别连接所述二极管的阴极和所述光电耦合器的负极。

根据本实用新型的一些实施例，所述光电耦合器的型号为LTV816。

根据本实用新型的一些实施例，所述二极管的型号为1N4007。

根据本实用新型的第二方面实施例的检测装置，包括：

如第一方面实施例所述的检测电路；