[实用新型]一种用于显微角分辨光谱系统的角度测量装置有效
申请号: | 202022670300.4 | 申请日: | 2020-11-18 |
公开(公告)号: | CN213902272U | 公开(公告)日: | 2021-08-06 |
发明(设计)人: | 孙聊新;张健;陆卫 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海技术物理研究所 |
主分类号: | G01B11/26 | 分类号: | G01B11/26 |
代理公司: | 上海沪慧律师事务所 31311 | 代理人: | 郭英 |
地址: | 200083 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 显微 分辨 光谱 系统 角度 测量 装置 | ||
1.一种用于显微角分辨光谱系统的角度测量装置,包括:三维平移台(1),角度旋转位移台(2),微型反射镜(3),显微物镜(4),分束器(5),科勒照明模块(6),平面反射镜(7),角分辨成像光路系统(8),光谱仪配面阵CCD(9),其特征在于:
所述的角度旋转位移台(2)固定在三维平移台(1)上,微型反射镜(3)固定在角度旋转位移台(2)上;工作时,科勒照明模块(6)发出的光束经分束器(5)45°反射之后,到达显微物镜(4)后会垂直照射在微型反射镜(3)上,光束垂直反射之后有一部分光会穿过分束器(5)到达平面反射镜(7),再经过角分辨成像光路系统(8),最终在光谱仪配面阵CCD(9)上成像;科勒照明光路配置下显微物镜(4)后焦平面数值孔径所决定的亮暗边界将由显微物镜(4)物方平面的微型反射镜(3)的旋转角度所控制,三维平移台(1)精确调整微型反射镜(3)的位置。
2.根据权利要求1所述的所述一种用于显微角分辨光谱系统的角度测量装置,其特征在于:所述的三维平移台(1)采用手动或电动控制,步进精度达到1μm,X,Y,Z三轴位移最大位移距离5mm。
3.根据权利要求1所述的所述一种用于显微角分辨光谱系统的角度测量装置,其特征在于:所述的角度旋转位移台(2)上面标有角度示数,总角度范围达到35度,采用同轴角度旋转设计或弧摆设计。
4.根据权利要求1所述的所述一种用于显微角分辨光谱系统的角度测量装置,其特征在于:所述的微型反射镜(3)作为科勒照明工作模式下的平面反射镜,采用的是金属反射镜或任何平面粗糙度小于5nm、具有10%反射率的固体表面。
5.根据权利要求1所述的所述一种用于显微角分辨光谱系统的角度测量装置,其特征在于:所述的显微物镜(4)收集角度达到70度,角度分辨率达到0.2度。
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