[实用新型]一种用于电子元器件和IC卡的静电放电测试仪

说明书

本实用新型公开了一种用于电子元器件和IC卡的静电放电测试仪，包括本体和放电枪，还包括便于检修内部器件的维护结构、避免手滑掉落的摩擦结构和便于放置的固定结构，所述本体顶端的中间位置处横向铰接有维修门，且维护结构均设置在维修门一端两侧的本体顶端，所述维修门一侧的上端安装有固定箱，且固定结构设置在固定箱的内部，所述固定箱内部设置有延伸至固定箱外部的放电枪，且放电枪一侧的上端安装有手柄，所述摩擦结构横向设置在手柄的内部。本实用新型通过设置固定箱和弧形卡箍，便于在测试完成后对放电枪的限位固定，避免搬运时，需要额外手持放电枪，降低搬运效率，进而便于降低使用者的负担。

技术领域

本实用新型涉及静电放电测试仪技术领域，具体为一种用于电子元器件和IC卡的静电放电测试仪。

背景技术

静电放电是指带电体周围的场强超过周围介质的绝缘击穿场强时，因介质电离而使带电体上的静电荷部分或全部消失的现象，而电子元器件和IC卡等是一种对静电放电较为敏感的电子线路，因此需要对其进行静电放电测试，但是现有的用于电子元器件和IC卡的静电放电测试仪还存在很多问题或缺陷：

第一，传统的用于电子元器件和IC卡的静电放电测试仪，使用时没有固定结构，放电枪不便固定，导致搬运时，需要手持放电枪和本体，十分不便。

第二，传统的用于电子元器件和IC卡的静电放电测试仪，使用时没有紧握结构，使用者使用者，可能发生手滑，造成测试的不便。

第三，传统的用于电子元器件和IC卡的静电放电测试仪，使用时没有便于维护结构，装置打开较为繁琐，进而增大工作人员维护难度。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种用于电子元器件和IC卡的静电放电测试仪，以解决上述背景技术中提出的不便固定、不便紧握和不便维护的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种用于电子元器件和IC卡的静电放电测试仪，包括本体和放电枪，还包括便于检修内部器件的维护结构、避免手滑掉落的摩擦结构和便于放置的固定结构；

所述本体顶端的中间位置处横向铰接有维修门，且维护结构均设置在维修门一端两侧的本体顶端；

所述维修门一侧的上端安装有固定箱，且固定结构设置在固定箱的内部；

所述固定箱内部设置有延伸至固定箱外部的放电枪，且放电枪一侧的上端安装有手柄，所述摩擦结构横向设置在手柄的内部。

优选的，所述固定结构包括枪口槽，所述枪口槽开设在固定箱内部的底端，且枪口槽内部的表面安装有柔性垫，所述枪口槽顶端的固定箱内部开设有固定槽，且固定槽内部两侧的上端均匀安装有固定凸起，所述放电枪的底端安装有环形固定板，且环形固定板两侧的下端均匀安装有活动凸起，所述固定箱远离本体一侧的顶端安装有弧形卡箍。

优选的，所述本体一端的两侧均安装有把手，且把手内部的一端均开设有手指槽。

优选的，所述维护结构包括复位弹簧、卡槽、维护块、卡块和维护箱，所述维护块均安装在维修门一端顶端的两侧，且维护块内部一端的下端均开设有卡槽，所述维护块一端的本体顶端均安装有维护箱，且维护箱内部的一端均安装有复位弹簧，所述复位弹簧一端均安装有与卡槽相配合的卡块。

优选的，所述摩擦结构包括摩擦槽、固定弹簧、气囊、滑动板、吸盘和单向阀，所述摩擦槽开设在手柄内部的顶端，且摩擦槽内部的底端安装有气囊，所述气囊的内部均匀安装有固定弹簧，且气囊顶端的摩擦槽内部滑动连接有滑动板，所述滑动板顶端均匀安装有延伸至手柄外部的吸盘，且吸盘底端一侧均通过导管与气囊顶端连通，所述摩擦槽两侧的手柄内部顶端均安装有单向阀，且单向阀底端均通过导管与气囊两侧底端连通。

优选的，所述摩擦槽内部两侧的上端均竖向开设有滑槽，且滑槽的内部均滑动连接有滑块，所述滑块的一侧均与滑动板两侧焊接。