[实用新型]一种用于光学测量仪器的校准器有效

专利信息
申请号: 202022711948.1 申请日: 2020-11-22
公开(公告)号: CN213515728U 公开(公告)日: 2021-06-22
发明(设计)人: 杨志华 申请(专利权)人: 深圳华证计量检测技术有限公司
主分类号: G01D18/00 分类号: G01D18/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518000 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 光学 测量 仪器 校准
【权利要求书】:

1.一种用于光学测量仪器的校准器,其特征在于:包括校准器主体(1),所述校准器主体(1)内部嵌入活动安装有调节块(2),所述校准器主体(1)一侧表面嵌入活动安装有一号螺纹转轴(3),所述校准器主体(1)前表面嵌入活动安装有二号螺纹转轴(4),所述校准器主体(1)下表面和所述调节块(2)上表面均开设有滑槽(101),所述校准器主体(1)内部一侧表面位于一号螺纹转轴(3)表面固定安装有二号螺母(103),所述校准器主体(1)内部一侧表面位于二号螺母(103)下方固定安装有一号支架(301),所述一号螺纹转轴(3)一端固定安装有一号齿轮(302),所述一号螺纹转轴(3)与所述一号支架(301)活动连接所述校准器主体(1)内部前表面位于二号螺纹转轴(4)表面固定安装有一号螺母(102),所述校准器主体(1)内部前表面位于一号螺母(102)下方固定安装有二号支架(401),所述二号螺纹转轴(4)一端固定安装有二号齿轮(402),所述二号螺纹转轴(4)与所述二号支架(401)活动连接,所述调节块(2)后表面接近一侧处固定安装有一号齿轮链(202),所述调节块(2)另一侧表面接近前表面处固定安装有二号齿轮链(203),所述一号齿轮链(202)与所述一号齿轮(302)活动啮合连接,所述二号齿轮链(203)与所述二号齿轮(402)活动啮合连接。

2.根据权利要求1所述的一种用于光学测量仪器的校准器,其特征在于:所述校准器主体(1)和所述调节块(2)一侧表面位于滑槽(101)两侧均嵌入固定安装有插销(6),所述插销(6)内部活动安装有F型推杆(601),所述调节块(2)上表面接近另一侧处和一侧表面均固定安装有水平尺(204)。

3.根据权利要求2所述的一种用于光学测量仪器的校准器,其特征在于:所述滑槽(101)内部均活动嵌入安装有固定块(5),所述固定块(5)两侧均开设有限位孔洞(501),所述F型推杆(601)一端贯穿插销(6)一侧表面与所述限位孔洞(501)活动连接。

4.根据权利要求3所述的一种用于光学测量仪器的校准器,其特征在于:所述调节块(2)下表面开设有连接槽(201),所述连接槽(201)内部活动嵌入安装有球接头(7),所述球接头(7)与所述校准器主体(1)内部下表面固定连接。

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