[实用新型]一种相控阵超声校准试块

说明书

本实用新型公开了一种相控阵超声校准试块，该试块包括试块基体、横通孔、吸声材料、刻度。其中试块基体正面为矩形，横通孔垂直于试块基体正面，吸声材料设置在试块基体的左下角和右上角，刻度在试块基体的上表面和下表面，通过将不同深度的横通孔在横向错开设置，实现了在一次耦合中、沿着试块上表面或下表面横向扫查便可获得不同深度、不同折射角的相控阵超声探头的横通孔回波，实现了TCG的有效校准，减少了测量时间，精简了校准程序；通过在左下角和右上角设置吸声材料和消声槽，大大降低了试块的端角反射回波，使得即使横通孔离试块端角较近，端角回波也不会对横通孔回波造成严重干扰；通过在试块上表面设置刻度，实现了不同深度横通孔及其对应的不同角度相控阵超声折射角的探头耦合位置的快速准确确定。

技术领域

本实用新型属于无损检测领域，具体涉及一种相控阵超声校准试块。

背景技术

相控阵超声探头TCG校准往往是探头设置和校准过程中最为耗时的环节，常用的相控阵超声探头TCG校准试块为CSK-ⅡA试块，在其上进行校准时，常需要来回的调换方向、多次耦合才能完成对相控阵超声探头TCG校准。同时，CSK-ⅡA还存在试块端角的反射波过强，在校准过程中端角反射波经常会影响到横通孔的反射波辨识。

针对以上情况，实有必要设计一种相控阵超声校准试块，以实现了相控阵超声探头高效准确的校准。

实用新型内容

针对现有技术中存在的问题，本实用新型提供一种相控阵超声校准试块，通过调整试块横通孔位置、设置吸声材料、刻上不同高度横通孔及其对应的不同角度相控阵超声折射角的刻度线，实现快速准确的相控阵超声探头TCG校准，降低了试块端角反射回波对横通孔回波的干扰，从而提高了相控阵超声探头的设置和校准效率。

本实用新型是通过以下技术方案来实现：

一种相控阵超声校准试块，该试块包括试块基体、吸声材料和多个横通孔；

其中，多个横通孔水平贯穿试块基体，多个横通孔沿试块基体的横向间隔设置，并且多个横通孔的高度均布相同，吸声材料设置在试块基体的拐角处。

优选的，所述试块基体的材质和上下表面的粗糙度与待检测工件一致。

优选的，所述横通孔的高度按照等差数列依次排布。

优选的，所述试块基体为矩形，吸声材料呈L型，设置在试块基体的底部的两个直角位置。

优选的，所述吸声材料靠近试块基体的一侧设置有消声槽。

优选的，所述消声槽为设置在吸声材料侧壁上的锯齿槽。

优选的，所述吸声材料与试块基体的声阻抗相同。

优选的，所述试块基体上设置有用于表示每个横通孔高度、折射角极小值和和折射角极大值的刻度标识。

优选的，所述横通孔的直径大于2mm。

与现有技术相比，本实用新型具有以下有益的技术效果：

本实用新型提供的一种相控阵超声校准试块，通过将不同高度的横通孔在横向错开设置，实现了在一次耦合中、沿着试块上表面或下表面横向扫查便可获得不同高度、不同折射角的相控阵超声探头的横通孔回波，实现了TCG的有效校准，减少了测量时间，精简了校准程序；其次，在试块基体的拐角处在左下角设置吸声材料和消声槽，大大降低了试块的端角反射回波，使得即使横通孔离试块端角较近，端角回波也不会对横通孔回波造成严重干扰。

进一步，通过在试块上表面设置刻度标识，实现了不同高度横通孔及其对应的不同角度相控阵超声折射角的探头耦合位置的快速准确确定。

附图说明

图1为本实用新型相控阵超声校准试块结构图；

图2为本实用新型相控阵超声校准试块工作原理图。