[实用新型]用于测量双金属元件弯曲特性的测量装置

权利要求书

1.一种用于测量双金属元件弯曲特性的测量装置，其特征在于，包括：

一个夹持本体(10)，其采用绝缘材料；

一个夹持块(20)，其用于配合所述夹持本体(10)夹持待测样品(70)，所述夹持块(20)采用绝缘材料；

一个支架组件，其用于夹持所述夹持本体(10)和所述夹持块(20)，所述支架组件包括一个连接件(31)和一个紧固件(32)，所述支架组件通过所述连接件(31)连接于所述夹持本体(10)，所述紧固件(32)用于调节所述夹持本体(10)和所述夹持块(20)之间夹持力的大小；以及

一个第一传感器支架(40)，其设置于所述夹持本体(10)和所述夹持块(20)中的一个，所述第一传感器支架(40)上设置有一个位移传感器(41)，所述位移传感器(41)用于测量所述待测样品(70)形变部分的位移。

2.根据权利要求1所述的用于测量双金属元件弯曲特性的测量装置，其特征在于，还包括一个电流传感器(60)，所述电流传感器(60)用于测量流经所述待测样品(70)的电流值。

3.根据权利要求1所述的用于测量双金属元件弯曲特性的测量装置，其特征在于，还包括：

一个第二传感器支架(50)，其设置于所述夹持本体(10)和所述夹持块(20)中的另一个，所述第二传感器支架(50)上设置有一个温度传感器(51)，所述温度传感器(51)用于测量所述待测样品(70)的温度。

4.根据权利要求3所述的用于测量双金属元件弯曲特性的测量装置，其特征在于，所述位移传感器(41)和所述温度传感器(51)为非接触式传感器。

5.根据权利要求4所述的用于测量双金属元件弯曲特性的测量装置，其特征在于，还包括一个记录仪，所述记录仪与所述位移传感器(41)和所述温度传感器(51)相连。

6.根据权利要求1所述的用于测量双金属元件弯曲特性的测量装置，其特征在于，所述夹持本体(10)上设置有一个连接孔(11)，所述支架组件还包括：

一个第一支架(33)，其上设置有所述紧固件(32)，所述第一支架(33)通过所述连接件(31)连接于所述连接孔(11)；以及

一个第二支架(34)，其通过所述连接件(31)与所述第一支架(33)相连。

7.根据权利要求6所述的用于测量双金属元件弯曲特性的测量装置，其特征在于，其能够通过所述紧固件(32)作用于所述夹持本体(10)、通过所述第二支架(34)作用于所述夹持块(20)以夹持所述待测样品(70)。

8.根据权利要求7所述的用于测量双金属元件弯曲特性的测量装置，其特征在于，所述连接件(31)位于所述连接孔(11)内的部分能够向所述夹持块(20)方向运动。

9.根据权利要求8所述的用于测量双金属元件弯曲特性的测量装置，其特征在于，所述第一支架(33)和所述第二支架(34)为U型件，所述紧固件(32)为螺钉。

10.根据权利要求8所述的用于测量双金属元件弯曲特性的测量装置，其特征在于，所述第二支架(34)上还设置有一个定位杆，所述定位杆的一个端部能够贯穿所述夹持块(20)并伸入所述夹持本体(10)的内部。

11.根据权利要求8所述的用于测量双金属元件弯曲特性的测量装置，其特征在于，所述夹持本体(10)上设置有限位凸块(12)，所述夹持块(20)上设置有与所述限位凸块(12)相配合的限位凹槽。

12.根据权利要求11所述的用于测量双金属元件弯曲特性的测量装置，其特征在于，所述夹持块(20)上设置有定位槽，所述定位槽能够容置所述待测样品(70)。