[实用新型]一种全自动芯片测试检脚烧录一体机

说明书

本实用新型公开一种全自动芯片测试检脚烧录一体机，涉及芯片烧录技术领域，包括：上相机机构、下相机机构、3D相机机构、运动机构和主机底板；运动机构包括X轴移动机构、Y轴移动机构和Z轴抓取机构；Y轴移动机构设置在主机底板上，X轴移动机构固定在Y轴移动机构上，X轴移动机构和Y轴移动机构将主机底板分为放置区和烧录区；Z轴抓取机构与X轴移动机构连接，Z轴抓取机构用于抓取放置区和烧录区的芯片；上相机机构固定在Z轴抓取机构上；下相机机构固定在Y轴移动机构上；3D相机机构设置在烧录区，3D相机机构用于获取Z轴抓取机构抓取芯片的图像以检测芯片是否存在烧录问题。本实用新型能够实现对芯片引脚是否合格的检测。

技术领域

本实用新型涉及芯片烧录技术领域，特别是涉及一种全自动芯片测试检脚烧录一体机。

背景技术

如图1所示的全自动芯片测试烧录机由X；Y；Z三个运动机构和上相机和下相机两个定位机构，以及取料区芯片供给机构和烧录区-芯片烧录机构组成。

上相机用来定位烧录座和取料区取料位置用。

下相机为Z轴抓取芯片后判断芯片在Z轴的位置。且上相机和下相机都是2D相机。所以当需要烧录的芯片出现引脚破损或者倾斜等问题出现不良，导致烧录无法完成时，机器是无法判别。正常操作是烧录不良的芯片会重新烧录，但引脚不良的芯片是无法烧录完成的，多次重复烧录不过时还需要人工进行挑选确认，即浪费人工，又耽误机器的产能。特别是芯片生产厂家是生产出来芯片后直接烧录，芯片未经过挑选，不良率高，严重影响芯片烧录的效率和不能自动区分芯片合格与不良。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种全自动芯片测试检脚烧录一体机，以实现对芯片引脚是否合格的检测。

为实现上述目的，本实用新型提供了如下方案：

一种全自动芯片测试检脚烧录一体机，包括：上相机机构、下相机机构、3D相机机构、运动机构和主机底板；

所述运动机构包括X轴移动机构、Y轴移动机构和Z轴抓取机构；所述Y轴移动机构设置在所述主机底板上，所述X轴移动机构固定在所述Y轴移动机构上，所述X轴移动机构和所述Y轴移动机构将所述主机底板分为放置区和烧录区；所述Z轴抓取机构与所述X轴移动机构连接，所述Z轴抓取机构用于抓取所述放置区和所述烧录区的芯片；所述上相机机构固定在所述Z轴抓取机构上；所述下相机机构固定在所述Y轴移动机构上；所述3D相机机构设置在所述烧录区，所述3D相机机构用于获取所述Z轴抓取机构抓取芯片的图像以检测所述芯片是否存在烧录问题。

可选的，所述全自动芯片测试检脚烧录一体机还包括：

芯片烧录机构；

所述芯片烧录机构设置在所述烧录区，所述芯片烧录机构用于对所述烧录区的芯片进行烧录。

可选的，所述全自动芯片测试检脚烧录一体机还包括：

芯片供给机构；

所述芯片供给机构设置在所述放置区；所述芯片供给机构用于为所述芯片烧录机构提供芯片。

可选的，所述3D相机机构设置在所述烧录区靠近所述Y轴移动机构中点的位置。

可选的，所述3D相机机构的型号DSMAX 32T CXP。

可选的，所述放置区包括取料区和不良区；

所述取料区和所述不良区沿所述Y轴移动机构排列设置；所述取料区与所述X轴移动机构之间的距离小于所述不良区与所述X轴移动机构之间的距离；所述取料区用于放置待烧录的芯片；所述不良区用于放置所述烧录区烧录失败的芯片。

根据本实用新型提供的具体实施例，本实用新型公开了以下技术效果：