[实用新型]一种紫外光分光光度仪的比色皿架

说明书

本实用新型公开了一种紫外光分光光度仪的比色皿架，包括底座，所述底座上设有多个用于放置比色皿的盛放槽，所述底座上方安装有架体，所述架体上设有与盛放槽位置对应的通孔，所述通孔的第一侧面设有用于擦拭比色皿外壁的弹性擦拭组件，所述盛放槽内设有用于固定比色皿的弹性固定件，所述弹性固定件位于弹性擦拭组件的下方。通过将擦镜纸包覆于滚筒上，擦镜纸的中间部分对比色皿的光学面进行擦拭，避免擦镜纸边缘的纤维附着于光学面上，再通过弹性擦拭组件增大了擦镜纸与光学面的摩擦力，提升了擦拭质量；滚筒可直接应用现有的擦镜纸，擦镜纸的结构无需定制。

技术领域

本实用新型涉及废水检测领域，特别涉及一种紫外光分光光度仪的比色皿架。

背景技术

紫外分光光度仪，就是根据物质的吸收光谱研究物质的成分、结构和物质间相互作用的有效手段。紫外分光光度计可以在紫外可见光区任意选择不同波长的光。物质的吸收光谱就是物质中的分子和原子吸收了入射光中的某些特定波长的光能量，相应地发生了分子振动能级跃迁和电子能级跃迁的结果。由于各种物质具有各自不同的分子、原子和不同的分子空间结构，其吸收光能量的情况也就不会相同，因此，每种物质就有其特有的、固定的吸收光谱曲线，可根据吸收光谱上的某些特征波长处的吸光度的高低判别或测定该物质的含量。每种物质就有其特有的、固定的吸收光谱曲线，可根据吸收光谱上的某些特征波长处的吸光度的高低判别或测定该物质的含量。紫外分光光度计是一种常用环境检测仪器，用于检测废水或大气中存在的污染物质，在使用的过程中，紫外分光光度计的比色皿需要垂直放置于比色皿架中，如果未垂直放置，在测量时入射光不能处置于透光面，则光反射受到损失，影响测量数据的准确性。

在使用的过程中，紫外分光光度计的比色皿需要垂直放置于比色皿架中，如果未垂直放置，在测量时入射光不能处置于透光面，则光反射受到损失，影响测量数据的准确性。其中申请号201720372603.3的中国实用新型专利，公开了一种紫外分光光度计的比色皿架，通过红外线水平检测仪检测比色皿的水平度，比色皿架需接通电源，且操作繁琐，需反复调整比色皿的位置以达到水平状态。

此外对于废水检测，需在比色皿中滴加试剂，若试剂或废水洒落在比色皿的光学面，则会影响测量的精确性，目前通常需要采用滤纸轻轻吸附，再采用擦镜纸进行擦拭，部分紫外分光光度计的比色皿架，在位于固定比色皿的通孔周边上设置擦镜纸，在比色皿放入过程中进行擦拭，但擦镜纸边缘的纤维易附着于光学面上，尤其是擦镜纸边缘被试剂或废水浸湿状态时，纤维易分离，所以人工擦拭光学面均是将擦镜纸折叠，采用擦镜纸的中部擦拭。综上所述，需对现有的比色皿架进行改进，以解决上述技术问题。

发明内容

本实用新型为了克服现有技术的缺点，提供一种紫外光分光光度仪的比色皿架，比色皿放置比色皿架后，即实现垂直放置，结构简单、方便快捷。

本实用新型的一种紫外光分光光度仪的比色皿架，包括底座，所述底座上设有多个用于放置比色皿的盛放槽，所述底座上方安装有架体，所述架体上设有与盛放槽位置对应的通孔，所述通孔的第一侧面设有用于擦拭比色皿外壁的弹性擦拭组件，所述盛放槽内设有用于固定比色皿的弹性固定件，所述弹性固定件位于弹性擦拭组件的下方。

进一步地，所述弹性擦拭组件包括滚筒和一对滚筒固定卡，所述滚筒的两端设有滚轴，所述滚筒固定卡靠近第一侧面一端的卡槽与滚轴活动连接，所述滚筒固定卡的中部为圆弧状，所述滚筒固定卡的另一端固定安装于架体上。

更进一步地，所述卡槽为矩形，所述卡槽的宽度大于滚轴的直径0.03-0.1mm。

进一步具体地，所述弹性固定件呈U型，固定安装于盛放槽的内壁上。

进一步地，所述滚轴上设有凸起。

优选地，所述凸起为两个，相对设置于滚轴相对的两个象限点上。

进一步地，滚筒为中空结构，所述滚筒表面的长度方向设有直槽。

本实用新型与现有技术相比具有如下优点：