[实用新型]一种具有夹持功能的半导体光电子器件测试装置

说明书

本实用新型涉及半导体电子器件技术领域，具体为一种具有夹持功能的半导体光电子器件测试装置，包括装置主体，所述装置主体包括器件测试主体、装置主杆和检测器，所述器件测试主体的一侧固定连接有装置底座，所述器件测试主体的一侧固定连接有装置主杆，所述装置主杆的一侧固定连接有横杆，所述器件测试主体的内部开设有第二滑轨。本实用新型通过设置有器件测试主体、装置主杆和检测器，可通过旋转转杆，带动丝杆旋转，当丝杆旋转时可带动螺纹套旋转，因为两组螺纹套内部螺纹相反，所以呈相互靠近移动，此时第一夹持板与第二夹持板相互靠近，使装置对电子器件进行夹持，方便工作人员进行检测，大大提升了装置使用的便捷性。

技术领域

本实用新型涉及半导体电子器件技术领域，具体为一种具有夹持功能的半导体光电子器件测试装置。

背景技术

半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料。半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明、大功率电源转换等领域都有应用，如二极管就是采用半导体制作的器件，无论从科技或是经济发展的角度来看，半导体的重要性都是非常巨大的。大部分的电子产品，如计算机、移动电话或是数字录音机当中的核心单元都和半导体有着极为密切的关联，与之搭配的测试装置也层出不穷。

但是，现有的测试装置存在检测时，电子器件不易固定，导致检测交过不准确，同时对不同大小的电子器件无法进行固定检测，因此，需要设计一种具有夹持功能的半导体光电子器件测试装置。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种具有夹持功能的半导体光电子器件测试装置，以解决上述背景技术中提出的检测时，电子器件不易固定，导致检测交过不准确，同时对不同大小的电子器件无法进行固定检测的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种具有夹持功能的半导体光电子器件测试装置，包括装置主体，所述装置主体包括器件测试主体、装置主杆和检测器，所述器件测试主体的一侧固定连接有装置底座，所述器件测试主体的一侧固定连接有装置主杆，所述装置主杆的一侧固定连接有横杆，所述器件测试主体的内部开设有第二滑轨，所述第二滑轨的内部滑动安装有第一滑块，且第一滑块的数量为两组，两组所述第一滑块的一侧皆固定连接有螺纹套，且两组螺纹套内部螺纹相反，两组所述螺纹套的内部螺纹连接有丝杆，所述丝杆的一侧固定连接有转盘，所述转盘的一侧固定连接有转杆，所述横杆的内部开设有第一滑轨，所述第一滑轨的内部滑动安装有第二滑块，所述第二滑块的内部设置有定位装置，所述第二滑块的一侧设置有升降机构。

优选的，两组所述螺纹套的一侧分别固定连接有第一夹持板与第二夹持板，所述第一夹持板的一侧固定连接有第一海绵垫，所述第二夹持板的一侧固定连接有第二海绵垫。

优选的，所述转杆的表面套接有防滑垫。

优选的，所述定位装置包括第一弹簧和空心筒，所述第二滑块的内部开设有空心筒，所述空心筒的内部固定连接有第一弹簧，所述第一弹簧的一侧固定连接有限位块，所述第一滑轨的内部开设有限位槽，所述限位块的一侧滑动安装于限位槽上。

优选的，所述升降机构包括收缩筒和连接杆，所述第二滑块的一侧固定连接有收缩筒，所述收缩筒的内部开设有第三滑轨，且第三滑轨的数量为两组，两组所述第三滑轨相靠近的一侧滑动安装有第三滑块，所述第三滑块的一侧固定连接有连接杆，所述连接杆的表面开设有升降槽，所述连接杆的内部横向穿插有插销，所述插销的一侧卡合有卡槽，所述收缩筒的一侧固定连接有限位板，且限位板的数量为两组，两组所述限位板的一侧固定连接有固定板，所述插销的一侧固定连接有拉环，所述连接杆的一侧固定连接有检测器。

优选的，所述插销的表面套接有第二弹簧，所述第二弹簧的一侧固定连接于固定板上。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：