[实用新型]一种芯片测试装置

说明书

本实用新型公开了一种芯片测试装置，包括底座，底座的顶端固定安装有光学分析仪本体，光学分析仪本体的顶端边侧固定安装有箱体，箱体的顶端固定安装有顶板，光学分析仪本体的顶端中部固定安装有减速电机，减速电机的输出轴的一端固定安装有螺杆，螺杆的一端与通过嵌设有轴承的顶板穿插连接，螺杆的外部螺纹连接有套环，套环的一侧固定安装有固定块，固定块的顶端开设有放置槽，本实用新型一种芯片测试装置通过在减速电机的输出端固定安装的螺杆，可以将固定块稳定上升或者下降，可以方便使用者将芯片放置在放置槽内，同时会减少芯片测试前的预备时间，有利于提高测试的效率，能满足使用者的需求。

技术领域

本实用新型涉及一种测试装置，特别涉及一种芯片测试装置。

背景技术

随着万物互联时代的到来，计算机和电子产品得到新一轮的发展，而计算机或其他电子设备中的芯片在物联网时代更有着举足轻重的地位，随着科技的发展，芯片技术也得到充足的发展，芯片在我们生活中也越来越重要，芯片的质量和参数测试变得也尤为重要。

现有的芯片测试装置，由于其结构较为简单，使用者在使用时不方便取出或者放置芯片，不能满足客户的使用需求；现有的芯片测试装置，在使用时由于芯片晃动，导致测试出现一定的误差，需要我们对此作出改进。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种芯片测试装置，以解决上述背景技术中现有的现有的芯片测试装置，由于其结构较为简单，使用者在使用时不方便取出或者放置芯片，不能满足客户的使用需求的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种芯片测试装置，包括底座，所述底座的顶端固定安装有光学分析仪本体，所述光学分析仪本体的顶端边侧固定安装有箱体，所述箱体的顶端固定安装有顶板，所述光学分析仪本体的顶端中部固定安装有减速电机，所述减速电机的输出轴的一端固定安装有螺杆，所述螺杆的一端与通过嵌设有轴承的顶板穿插连接，所述螺杆的外部螺纹连接有套环，所述套环的一侧固定安装有固定块，所述固定块的顶端开设有放置槽，所述放置槽的两侧槽壁的中部均固定安装有电动伸缩杆，两个所述电动伸缩杆的一侧均固定安装有压板。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述底座的底端贴设有与之相匹配的防滑垫。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述箱体的一侧箱壁开设有凹槽，所述凹槽的两侧槽壁均开设有滑槽，两个所述滑槽分别与滑盖的两侧滑动连接，所述滑盖正面的顶部固定安装有拉环。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述箱体的正面箱壁开设有玻璃窗安装槽，所述玻璃窗安装槽的槽壁固定安装有透明玻璃窗。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述光学分析仪本体正面的一侧嵌设安装有显示面板。

作为本实用新型的一种优选技术方案，两个所述压板的一侧均固定安装有橡胶垫。

作为本实用新型的一种优选技术方案，所述光学分析仪本体正面的一侧嵌设安装有开关面板，所述开关面板的表面固定安装有电动伸缩杆控制开关和电机控制开关，所述电动伸缩杆和减速电机分别通过电动伸缩杆控制开关和电机控制开关与外接电源电性连接。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：本实用新型一种芯片测试装置：

1、通过在减速电机的输出端固定安装的螺杆，可以将固定块稳定上升或者下降，可以方便使用者将芯片放置在放置槽槽内，同时会减少芯片测试前的预备时间，有利于提高测试的效率，能满足使用者的需求。

2、通过在放置槽两侧槽壁固定安装的电动伸缩杆，可以将压板推出，将芯片固定在放置槽内，使芯片在测试时不会晃动，有利于降低测试的误差，有利于提高本芯片测试装置的实用性。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图；

图2为本实用新型的减速电机与螺杆的连接结构示意图；