[实用新型]电性测试装置

说明书

本申请适用于电工设备技术领域，提供了一种电性测试装置，包括第一驱动件、第二驱动件、转盘、卫星盘、吸嘴座、下压机构和检测座，第一驱动件驱动转盘旋转；第二驱动件驱动卫星盘旋转；吸嘴座设于卫星盘上，沿吸嘴座的周向设有多个吸嘴；下压机构用于下压吸嘴吸取待测件和下压吸嘴上的待测件进行电性测试；检测座用于对吸嘴上的待测件进行电性测试。本申请提供的电性测试装置，通过分别驱动转盘和卫星盘转动，下压机构可以分别对卫星盘上的吸嘴进行吸取待测件和下压待测件到检测座上进行电性测试，对检测完的吸嘴下的待测件，卫星盘转动，使未检测的吸嘴下的待测件被下压机构下压进行电性测试，避免其他吸嘴在吸取待测件等待时间，提高测试效率。

技术领域

本申请涉及电工设备技术领域，更具体地说，是涉及一种电性测试装置。

背景技术

目前，随着半导体分立器件产业在国际市场占有举足轻重的地位提升，并保持着持续、快速、稳定的发展，同时电子整机、消费类电子产品等市场的发展，使半导体分立器件的需求量的增长。因此，现代的生产工厂需要一种高速，高性能的测试分选设备以满足其生产需要，市场上材料测试的方式有并测和串测两种方式。机台上一般是有4个测试站，站与站之间都是挨着分布在主转盘的一侧，材料从主转盘进入测试站，一个转盘与下压机构连接，另一个转盘与吸嘴座连接，其旋转电机分别与两个转盘连接，并带动两个转盘同步转动，其串测的检测方式是材料通过主转盘的旋转和上下运动逐一通过4个测试站的检测完成测试；并测的检测方式是主转盘旋转运送4颗材料陆续到四个测试站上方(4个吸嘴对应4个测试站)，此时吸嘴同时下压到测试座接触测试片进行检测，检测完成之后吸嘴同时取料完成电性测试。无论是串测还是并测，两个转盘都是在一个旋转电机的驱动下同步转动，使下压机构与吸嘴座只能对应设置，导致用户使用时适用性差、效率低的问题。

实用新型内容

本申请实施例的目的在于提供一种电性测试装置，旨在解决现有技术中测试设备的两个转盘由同一个旋转电机驱动导致其用户使用时适用性差、效率低的技术问题。

为实现上述目的，本申请采用的技术方案是：提供一种电性测试装置，包括：

第一驱动件；

第二驱动件，所述第二驱动件与所述第一驱动件同轴设置；

转盘，所述转盘与所述第一驱动件连接，所述第一驱动件驱动所述转盘旋转；

卫星盘，所述卫星盘与所述第二驱动件连接，所述第二驱动件驱动所述卫星盘旋转；

吸嘴座，所述吸嘴座设置于所述卫星盘上，沿所述吸嘴座的周向设置有多个吸嘴；

下压机构，所述下压机构设置于所述转盘上，用于下压所述吸嘴吸取待测件和下压所述吸嘴上的待测件进行电性测试；

检测座，所述检测座设置于所述卫星盘的下方，用于对所述吸嘴上的待测件进行电性测试。

进一步地，所述第二驱动件包括第二驱动电机和第二输出轴，所述第二驱动电机和所述第二输出轴设置有中空结构，所述第二输出轴与所述卫星盘连接；

所述第一驱动件包括第一驱动电机和第一输出轴，所述第一驱动电机与所述第一输出轴连接，所述第一输出轴依次穿过所述第二驱动电机的中空结构、所述第二输出轴的中空结构和所述卫星盘与所述转盘连接。

进一步地，所述吸嘴座设置有两个，且两个所述吸嘴座沿所述卫星盘周向设置，且每个所述吸嘴座上设置吸嘴数量与所述检测座的数量相等。

进一步地，所述吸嘴座呈扇形，多个所述吸嘴沿所述吸嘴座的边缘设置。

进一步地，所述下压机构包括驱动部和顶杆组件，所述驱动部与所述顶杆组件连接，所述驱动件驱动所述顶杆组件向所述卫星盘的方向往返运动。

进一步地，所述下压机构还包括支座，所述驱动部与所述支座固定连接，且所述驱动部的输出轴穿过所述支座与所述顶杆组件传动连接。