[实用新型]一种射击弹壳击针头痕迹采集装置有效

专利信息
申请号: 202022877263.4 申请日: 2020-12-04
公开(公告)号: CN213481264U 公开(公告)日: 2021-06-18
发明(设计)人: 郭勇;张大治;李永胜;黄霖宇 申请(专利权)人: 四川大学
主分类号: G01B11/22 分类号: G01B11/22;G06F3/041
代理公司: 成都天嘉专利事务所(普通合伙) 51211 代理人: 苏丹
地址: 610015 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 射击 弹壳 针头 痕迹 采集 装置
【说明书】:

本申请属于刑侦鉴别领域,尤其涉及一种射击弹壳击针头痕迹采集装置,包括底座,所述底座上设置有第一固定支架、第二固定支架和二维调整平台,所述第一固定支架上设置有激光器和多个线性CCD阵列,所述第二固定支架上设置透镜及多个接收透镜,所述线性CCD阵列与接收透镜相互对应匹配分布,所述二维调整平台上设置有旋转载物台,所述旋转载物台上安装有弹壳夹具。本申请中采用多接收结构,发射光通常不会导致多个接收结构同时失效,因此提高了测量的适用范围及测量准确性。

技术领域

本申请属于刑侦鉴别领域,尤其涉及一种射击弹壳击针头痕迹采集装置。

背景技术

在涉枪案件中,弹壳作为重要的物证,对案件侦破、刑事诉讼和法律认定均具有重要意义,而弹壳痕迹检验技术则是充分发挥弹壳物证作用的关键技术。在弹壳诸多痕迹特征中,击针撞击底火后留下痕迹的形状和位置可作为认定枪支时主要检验特征使用。目前用的底火痕迹检验方法主要有人工识别和自动识别两大类。人工识别涉及大量人工操作,都有可能对弹壳造成痕迹二次破坏的风险。电子显微成像技术避免了上述问题,可自动对痕迹进行扫描成像。现有专利如申请号为CN201810920607.X,名称为《一种自动识别弹壳痕迹的方法》的中国发明专利,其技术方案如下:本发明公开了一种自动识别弹壳痕迹的方法,包括步骤为:利用三维共聚焦显微镜采集弹壳痕迹数据并进行预处理;构造弹壳痕迹高斯差分金字塔;遍历所述金字塔上每个像素点并与其周围26个点比较,以局部极值点作为特征点;根据计算出的特征点,利用SIFT算法计算其特征向量;根据所述特征向量,以欧氏距离法进行弹壳痕迹匹配;计算特征点密集区域,以其面积占弹壳痕迹总面积百分比作为判断是否匹配的依据。

但由于其成像原理通常是经过自动多次变焦对不同深度痕迹进行逐层扫描后再拼接,容易导致成像误差或拼接不上的问题。本方法提供了一种对弹壳无损的底火三维痕迹提取方法。

发明内容

为了克服现有技术中存在的上述问题,现在特别提出一种多个接收单元的射击弹壳击针头痕迹采集装置。

为实现上述技术效果,本申请的技术方案如下:

一种射击弹壳击针头痕迹采集装置包括底座,所述底座上设置有第一固定支架、第二固定支架和二维调整平台,所述第一固定支架上设置有激光器和多个线性CCD阵列,所述第二固定支架上设置透镜及多个接收透镜,所述线性CCD阵列与接收透镜相互对应匹配分布,所述二维调整平台上设置有旋转载物台,所述旋转载物台上安装有弹壳夹具。

进一步地,所述第一固定支架上设置有线性CCD阵列A、线性CCD阵列B、线性CCD阵列C和线性CCD阵列D,所述线性CCD阵列A、线性CCD阵列B、线性CCD阵列C和线性CCD阵列D均匀分布在所述激光器周围。

进一步地,所述第二固定支架上设置有接收透镜A、接收透镜B、接收透镜C和接收透镜D,所述接收透镜A、接收透镜B、接收透镜C和接收透镜D均匀分布在所述透镜周围。

进一步地,所述激光器、线性CCD阵列、旋转载物台和二维调整平台与控制电路相连。控制电路为基于现有技术中的单片机或FPGA为核心的控制电路板,例如搭载STM32F407ZGT6的控制电路板。

进一步地,所述控制电路与交互终端相连。所述交互终端为具有按键或触摸输入的显示终端,如TPC1061H一体化触摸屏。

本申请的优点在于:

1、由于凹痕具有不同形状结构。当凹痕结构导致激光反射严重时,单接收单元测量装置可能无法进行正常测量。而本申请中采用多接收单元,发射光通常不会导致多个接收单元同时失效,因此提高了测量的适用范围及测量准确性。

2、传统显微镜人工检验方法效率低,工作量大,且容易对弹壳造成痕迹破坏。本申请对物证不造成二次破坏,减少了工作量。

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