[实用新型]一种套筒式多点接触金属探针

说明书

本实用新型公开了一种套筒式多点接触金属探针，外探针包括从左至右依次连接的第一阶梯轴、第二阶梯轴和第三阶梯轴，第一阶梯轴和第二阶梯轴内部设置有从左至右的第一阶梯孔和第二阶梯孔，第一活动弹簧与第一螺母从左至右依次设置在第三阶梯轴上；内探针包括相连接的左部的第四阶梯轴和右部的第五阶梯轴，第二活动弹簧和部分第四阶梯轴设置在第一阶梯孔内，第五阶梯轴穿过第三阶梯轴和第二螺母并与第二螺母固定。本实用新型采用内外两根探针相互叠加的设计，内探针与外探针通过活动弹簧都可以自由伸缩，和接触物件接触时扩大了探针和被接触件的接触面积，有效的减少了接触电阻，提升了传输的电流/电压的有效值，结构简单，动作可靠，实用性强。

技术领域

本实用新型涉及一种金属探针，具体涉及一种套筒式多点接触金属探针。

背景技术

在电气元件，线束产品的生产和加工企业中，为了保证产品质量，需要对元件和线束进行电气性能测试，测试产品需要可靠的连接，进行电流/电压的传输，如果连接处存在接触不良的情况，将会使测试失败，而反映的是产品质量存在问题，就需要进行报废处理。而如果产品是良好的，不良的产生仅仅是因为连接测试设备的金属接触探针的接触不良造成的，这样报废了良好的产品，给企业带来经济的损失，也无法准确的反应产品的质量。所以改善接触用接触探针变量刻不容缓，意义重大。

市场上普遍采用的普通接触探针有以下缺点：1.单根针只有一个弹性接触点；2.接触面机较小，常常和接触体只能形成一个接触小点；3.造成接触电阻较大，对电气性能测试结果影响较大。

发明内容

为解决上述问题，本实用新型的目的是提供一种套筒式多点接触金属探针，采用内外两根探针相互叠加的设计，内探针与外探针通过活动弹簧都可以自由伸缩，和接触物件接触时会增加探针的接触点，扩大了探针和被接触件的接触面积，有效的减少了接触电阻，结构简单，动作可靠，实用性强。

为实现上述技术目的，达到上述技术效果，本实用新型通过以下技术方案实现：

一种套筒式多点接触金属探针，包括内探针，穿在所述内探针上的外探针，设置在所述外探针上的第一活动弹簧和第一螺母，设置在所述内探针上的第二活动弹簧和第二螺母，设置在所述第一螺母上的第一电气接线端和设置在所述第二螺母上的第二电气接线端；所述外探针包括从左至右依次连接的第一阶梯轴、第二阶梯轴和第三阶梯轴，所述第一阶梯轴和所述第二阶梯轴内部设置有从左至右的第一阶梯孔和第二阶梯孔，所述第一阶梯孔的直径大于所述第二活动弹簧的直径，所述第二阶梯孔的直径小于所述第二活动弹簧的直径，所述第二阶梯轴的直径大于所述第三阶梯轴的直径，所述第一活动弹簧与所述第一螺母从左至右依次设置在所述第三阶梯轴上，所述第一活动弹簧一端与所述第二阶梯轴的轴肩固定，另一端与所述第一螺母固定；所述内探针包括相连接的左部的第四阶梯轴和右部的第五阶梯轴，所述第四阶梯轴的直径大于所述第五阶梯轴的直径，所述第二活动弹簧设置在所述第五阶梯轴上，所述第二活动弹簧和部分所述第四阶梯轴设置在所述第一阶梯孔内，所述第二螺母设置在所述第三阶梯轴右端的外端，所述第五阶梯轴穿过所述第三阶梯轴和所述第二螺母并与所述第二螺母固定。

进一步的，所述第一活动弹簧与所述第一螺母之间还设置有弹簧垫片。

进一步的，所述第一螺母为水平并排的两组。

进一步的，所述第一阶梯轴的直径小于所述第二阶梯轴的直径。

进一步的，所述第二螺母为水平并排的两组，两组之间设置有垫片。

进一步的，所述第三阶梯轴上设置有与所述第一螺母对应的第一螺纹。

进一步的，所述第五阶梯轴上设置有与所述第二螺母对应的第二螺纹。

本实用新型的有益效果是：