[实用新型]一种荧光发光光谱与寿命探测系统

说明书

本实用新型公开了一种荧光发光光谱与寿命探测系统，涉及荧光技术领域，该荧光发光光谱与寿命探测系统包括倒置光学显微镜、物镜、全反镜、外壳、聚焦镜、可调节针孔、扩束镜、光纤耦合器、多模光纤、单色仪、单光子探测器、二向色镜模块、潜望镜组、光阑、可调中性滤波片组以及脉冲激光器。本实用新型实施例所述荧光发光光谱与寿命探测系统将荧光寿命成像与荧光波长探测相结合，进一步从两种不同维度同时研究物体的属性，通过融合了荧光寿命和荧光波长两种参数同时探测，集成了共聚焦的高空间分辨率，以及单色仪对波长的精确筛选，为研究物体光物理化学属性拓展了参照维度，从而提升了实验的可靠性和全面性。

技术领域

本实用新型涉及荧光技术领域，尤其涉及一种荧光发光光谱与寿命探测系统。

背景技术

物体发出的荧光，含有多种光物理性质。例如，判断单分子镀膜的均匀性，光伏太阳能电池材料的光电转化及存储效率，分子间的能量传递，大分子蛋白的构型，细胞内的物质转移特性等。都可以通过对其荧光寿命的测量来进行有效的量化标定。荧光作为一种光能，是由其他相同或不同形式的能量转化而来，常见的形式有，光能之间的互相转化，由能量较高的短波长光能刺激样品，经过能级跃迁及内转化能机理，样品发射出能量较低的长波长的荧光，此种实验方式现阶段较为常见。此外，由于波长是光能的基础属性之一，许多研究领域对物体发出荧光的波长也非常关注，特别是对于材料学领域，需要同时对同区域的样品所发出的荧光进行寿命和波长两个维度的量化数据采集和分析，以此来研究材料的性能，并改进相应的生产工艺。但值得注意的是，光谱分光会对样品所发出的荧光进行进一步筛选，在这种情况下，荧光信号的强度会有较大幅度的降低。因此，当前亟待出现一种可以同时针对荧光寿命和荧光波长两种参数同时探测的探测系统。

实用新型内容

为了克服现有技术中相关产品的不足，本实用新型提出一种荧光发光光谱与寿命探测系统。

本实用新型提供了一种荧光发光光谱与寿命探测系统，包括：倒置光学显微镜，所述倒置光学显微镜的样品台正下方设置有物镜，所述样品台上对应于物镜的位置固定放置有荧光探测的样品；所述物镜的正下方设置有全反镜；所述倒置光学显微镜的一侧设置有隔光的外壳，所述外壳的外侧依次设置有单色仪和单光子探测器，所述外壳内设置有聚焦镜、可调节针孔、扩束镜以及光纤耦合器，所述全反镜、聚焦镜、可调节针孔、扩束镜、光纤耦合器依次同轴设置，所述光纤耦合器与所述单色仪通过多模光纤连通；所述物镜和全反镜之间设置有二向色镜模块，所述倒置光学显微镜的另一侧面设置有脉冲激光器，所述脉冲激光器的输出方向上还依次设置有可调中性滤波片组、光阑以及潜望镜组，所述脉冲激光器输出的具有周期性短脉冲序列的激光依次通过所述可调中性滤波片组、光阑以及潜望镜组到达所述二向色镜模块并反射到所述物镜中，从而聚焦到样品的特定区域。

在本实用新型的某些实施方式中，所述扩束镜和光纤耦合器之间的光路中还可以设置有滤光片。

在本实用新型的某些实施方式中，所述扩束镜和光纤耦合器之间的光路中还可以设置有偏振片。

与现有技术相比，本实用新型有以下优点：

本实用新型实施例所述荧光发光光谱与寿命探测系统将荧光寿命成像与荧光波长探测相结合，进一步从两种不同维度同时研究物体的属性，通过融合了荧光寿命和荧光波长两种参数同时探测，集成了共聚焦的高空间分辨率，以及单色仪对波长的精确筛选，为研究物体光物理化学属性拓展了参照维度，从而提升了实验的可靠性和全面性。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型所述荧光发光光谱与寿命探测系统的主视图；

图2为本实用新型所述荧光发光光谱与寿命探测系统的侧视图。