[实用新型]一种测试速度快的接地引下线导通测试仪

权利要求书

1.一种测试速度快的接地引下线导通测试仪，其包括CPU芯片、电压互感器、电压检测模块和正弦波发生电路，其特征在于：还包括电源、分压式偏置放大电路和T型匹配电路；

所述正弦波发生电路的输出端与分压式偏置放大电路的输入端电性连接，电源与分压式偏置放大电路的电源端电性连接，分压式偏置放大电路的输出端与T型匹配电路的输入端电性连接，T型匹配电路的输出端通过电压互感器分别与接地引下线的一端和电压检测模块的输入端电性连接，电压检测模块的输出端与CPU芯片的模拟输入端电性连接，接地引下线的另一端输出电流信号。

2.如权利要求1所述的一种测试速度快的接地引下线导通测试仪，其特征在于：还包括隔离电路；

所述电源与隔离电路的输入端电性连接，隔离电路的输出端与分压式偏置放大电路的输出端电性连接。

3.如权利要求2所述的一种测试速度快的接地引下线导通测试仪，其特征在于：所述分压式偏置放大电路包括电阻R1-R3、电容C1、电容C2和场效应管Q1；

所述正弦波发生电路的输出端通过电容C1分别与电阻R1的一端、电阻R2的一端、电阻R3的一端和场效应管Q1的栅极电性连接，电阻R1的另一端与电源电性连接，电阻R2的另一端接地，电阻R3的另一端通过电容C2接地，场效应管Q1的源极接地，场效应管Q1的漏极分别与隔离电路的输出端和T型匹配电路的输入端电性连接。

4.如权利要求3所述的一种测试速度快的接地引下线导通测试仪，其特征在于：所述隔离电路包括极性电容C3和射频扼流圈RFC；

所述电源分别与射频扼流圈RFC的一端、极性电容C3的正极电性连接，极性电容C3的负极接地，射频扼流圈RFC的另一端与场效应管Q1的漏极电性连接。

5.如权利要求3所述的一种测试速度快的接地引下线导通测试仪，其特征在于：所述T型匹配电路包括电感L1、可变电容C4和可变电容C5；

所述场效应管Q1的漏极通过电感L1分别与可变电容C4的一端和可变电容C5的一端电性连接，可变电容C5的另一端接地，可变电容C4的另一端与电压互感器的输入端电性连接。

6.如权利要求1所述的一种测试速度快的接地引下线导通测试仪，其特征在于：所述正弦波发生电路包括信号发生芯片AD9850和光电隔离电路；

所述信号发生芯片AD9850的RF_OUT端通过光电隔离电路与分压式偏置放大电路的输入端电性连接。

7.如权利要求6所述的一种测试速度快的接地引下线导通测试仪，其特征在于：所述光电隔离电路包括电容C6、电容C7、电阻R13-R15、第一运算放大器LM741、第二运算放大器LM741和线性光耦HCNR201；

所述信号发生芯片AD9850的RF_OUT端通过电阻R13分别与第一运算放大器LM741的反相输入端和线性光耦HCNR201的第三引脚电性连接，第一运算放大器LM741的同相输入端接地，电容C6并联在第一运算放大器LM741的反相输入端及其输出端之间，第一运算放大器LM741的输出端通过电阻R15与线性光耦HCNR201的第一引脚电性连接，线性光耦HCNR201的第四引脚及其第五引脚均接地，线性光耦HCNR201的第六引脚与第二运算放大器LM741的反相输入端电性连接，第二运算放大器LM741的同相输入端接地，电阻R14并联在第二运算放大器LM741的反相输入端及其输出端之间，电容C7并联在电阻R14的两端，第二运算放大器LM741的输出端与分压式偏置放大电路的输入端电性连接。

8.如权利要求1所述的一种测试速度快的接地引下线导通测试仪，其特征在于：还包括电流互感器和电流检测模块；

所述电流互感器采集接地引下线上的电流，并将该电流对应的电流信号输入至电流检测模块的输入端，电流检测模块的输出端与CPU芯片的模拟输入端电性连接。