[实用新型]一种便于观察的芯片检查盘有效
| 申请号： | 202023065657.6 | 申请日： | 2020-12-18 |
| 公开（公告）号： | CN214277923U | 公开（公告）日： | 2021-09-24 |
| 发明（设计）人： | 芮聪;杨吉明;匡华强;范宇;孙杰;张正贵 | 申请（专利权）人： | 江苏海德半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/84 | 分类号： | G01N21/84;G01N21/01 |
| 代理公司： | 北京轻创知识产权代理有限公司 11212 | 代理人： | 陈晓华 |
| 地址： | 214400 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 便于 观察 芯片 检查 | ||
【权利要求书】：
1.一种便于观察的芯片检查盘，其特征在于：包括检查盘主体和盖板，检查盘主体的中部为内凹，且检查盘主体中部设有若干放置孔，放置孔呈矩阵阵列分布，检查盘主体的前后两端设有两组开槽，盖板穿过对应组的开槽位于各放置孔的上方或者下方。
2.根据权利要求1所述的便于观察的芯片检查盘，其特征在于：所述检查盘主体的前端设有两个基座，基座位于两个开槽之间，基座的上端面以及下端面上均设有一个玻珠螺丝，盖板上设有两个限位槽，玻珠螺丝能够嵌入到对应的限位槽中。
3.根据权利要求1所述的便于观察的芯片检查盘，其特征在于：所述盖板由透明玻璃制成。
4.根据权利要求1所述的便于观察的芯片检查盘，其特征在于：所述放置孔的槽口均为喇叭口。
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