[实用新型]一种热敏电阻器测试夹具

说明书

公开的一种热敏电阻器测试夹具，包括工作台，工作台上设置有上探针以及下探针，上探针、下探针分别接触待测电子元件的第一参数测量点，工作台上还设置有左接触块和右接触块，左接触块、右接触块分别接触待测电子元件的第二参数测量点，左接触块滑动设置于工作台上，工作台上设置有锁紧左接触块的左锁紧器。本方案中，上探针和下探针用于配合工具测量第一参数，左接触块、右接触块用于配合另一工具测量第二参数。采用该夹具可以测量电子元件的不同参数，并且，电子元件在测量过程中不需要焊接，提高了电子元件的测试效率。另外，左接触块滑动设置于工作台上，左接触块与右接触块之间的距离可以调节，从而使得测试夹具可以适应不同型号的产品。

技术领域

本公开涉及电子元件测试技术领域，尤其涉及一种热敏电阻器测试夹具。

背景技术

高分子PTC热敏电阻器绝缘电阻、介质耐电压试验项目是高分子PTC热敏电阻器鉴定试验和B组试验中的试验项目。高分子PTC热敏电阻器在测试绝缘电阻、介质耐电压时采用专用的测试夹具，该夹具只能满足特定型号的产品，其他型号产品无法使用。由于该夹具放置产品的位置尺寸是一定的，只能满足外形尺寸接近的产品，并且每次测试时都需要将产品用电烙铁焊接在夹具上，试验完成后还得将产品从夹具上用电烙铁取下，非常不方便，并且还有可能对产品造成损伤，影响后继试验，工作效率低。

实用新型内容

本公开提供一种热敏电阻器测试夹具，解决了现有技术中电子元件测试用夹具操作不方便、通用性差的技术问题。

解决上述技术问题采用的一些实施方案包括：

一种热敏电阻器测试夹具，包括工作台，所述工作台上设置有上探针以及下探针，所述上探针、所述下探针分别接触待测电子元件的第一参数测量点，所述工作台上还设置有左接触块和右接触块，所述左接触块、所述右接触块分别接触待测电子元件的第二参数测量点，所述左接触块滑动设置于所述工作台上，所述工作台上设置有锁紧所述左接触块的左锁紧器。

作为优选，所述右接触块滑动设置于所述工作台上，所述工作台上设置有锁紧所述右接触块的右锁紧器。

本方案中，右接触块滑动设置于工作台上，左接触块与右接触块之间的距离具有更大的调节范围，可以适应更多型号的电子元件。

作为优选，所述左锁紧器、所述右锁紧器均为锁紧螺栓，所述锁紧螺栓包括锁紧螺母，所述锁紧螺母上设置有蝶形手柄。

本方案中，锁紧螺母操作方便，不需要借助工具，优化了锁紧螺母的操作性能。

作为优选，所述左接触块、所述右接触块上分别设置有条形槽，所述锁紧螺栓穿过所述条形槽。

本方案中，条形槽的设置限定左接触块、右接触块的调节范围，并且，条型槽配合锁紧螺栓具有导向能力，优化了左接触块、右接触块的位移精度。

作为优选，所述工作台上还设置有支撑所述上探针的支架，所述上探针滑动设置于所述支架上。

本方案中，支架的设置使得上探针操作方便，优化了上探针的操作性能。

作为优选，所述支架上设置有通孔，所述上探针穿过所述通孔与待测电子元件接触，所述上探针远离所述工作台的一端设置有环形手柄。

本方案中，环形手柄的设置进一步优化了上探针的操作性能。

作为优选，所述上探针与所述下探针通过导线与第一夹线器电性连接。

本方案中，导线的设置使得测试夹具设置位置灵活，优化了测试夹具的操作性能。

作为优选，所述支架上设置有使所述导线穿过的穿线孔，所述穿线孔为长条形。

本方案中，穿线孔呈长条形，导线不易损坏，延长了导线的使用寿命。