[实用新型]连接配对件的系统、适配器部件、适配器壳体和适配器系统有效
申请号: | 202023082497.6 | 申请日: | 2020-12-18 |
公开(公告)号: | CN216081868U | 公开(公告)日: | 2022-03-18 |
发明(设计)人: | 简·安德里亚斯 | 申请(专利权)人: | 阿尔戈股份有限公司 |
主分类号: | G01L19/00 | 分类号: | G01L19/00;H01M8/04;H01M8/2465;F16K1/36;F16K1/32;F16K27/02 |
代理公司: | 北京辰权知识产权代理有限公司 11619 | 代理人: | 郎志涛;董李欣 |
地址: | 德国格*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 连接 配对 系统 适配器 部件 壳体 | ||
本实用新型涉及一种连接配对件的系统,包括:第一密封和第二密封,第一密封由阀芯和布置在流体通道中的第一密封件组成,其中阀芯设计用于能通过与密封件相互作用而能够在打开位置与关闭位置之间被调节或移动,其中在该打开位置,流体能够流过该流体通道,而在该关闭位置,流体不能流过该流体通道;在经由流体通道流过/流出的流体的流出方向上,第二密封在第一密封的下游布置在流体通道中并设计用于密封在流体通道与构件之间的连接区,其中第二密封被如下设计:当构件被连接到配对件时,第二密封将该连接区密封,随后第一密封才可或将通过机械方式被调节或移动到打开位置,本实用新型还涉及一种适配器部件、适配器壳体和适配器系统。
技术领域
本实用新型涉及一种连接配对件的系统、一种适配器部件、一种适配器壳体以及一种具有这种适配器部件和这种适配器壳体的适配器系统,它们全都设立用于建立在构件例如像传感器或系统接口与配对件如选自以下组的构件之间的导流连接或流体输送连接且尤其是气体输送连接,该组包括:压力容器、阀、阀组、集成阀等。
背景技术
从现有技术中知道了用于在构件如压力传感器和配对件如高压容器之间建立连接、尤其是导流连接或流体输送连接的装置。在此,例如将用于检测高压容器中当前压力的压力传感器直接连接到构件(配对件)如罐内阀(OTV)或气体运送装置(GHU)或者直接拧入到高压容器或气体蓄压器中。或者,压力传感器也可被接入直接与高压容器相连的其它气体输送部件中。因为所述密封在气体情况下扮演重要角色,故通常使用密封件来密封在构件(压力传感器)和配对件(部件)之间的连接位点。这尤其也适用于高压应用,例如适用于压缩天然气用或压缩氢气用管道件。特别是在氢密封时,针对氢施加高扩散阻力的相应密封件是至关重要的。
此外,特别是在氢应用中,必须定期检查和拆卸安装在氢供应系统中的部件如压力传感器、压力指示器、温度传感器和许多其它部件。在此,尤其在具有700巴或更高压力的高压系统情况下成问题的是要排空与待取出的部件相连的部件例如集成阀或管路。构件(配对件)必须是无气的并且要确保在任何情况下都不能有大量氢气从系统流出。此时尤其必须每年更换高压传感器。在一些氢应用中,压力传感器被直接旋拧到高压容器,这意味着必须先将高压容器完全排空,然后才能取出高压传感器。这是一件困难、危险且昂贵的事情,因为在清空系统后必须用氮气将其惰性化,只有当确保系统中没有氧气后才能填充氢。由于两种气体不会混合,故这是一个耗时过程并且始终存在系统中残留有氮的剩余风险。
传统的用于气体输送构件的连接技术的另一个缺点是以下事实,即,被用于产生密封效果的密封件和螺纹连接件都直接接触到待密封介质特别是气体。这在常规气体如天然气的情况下并不引人注目,但在被用于氢应用中组成部件的连接结构情况下可能是重大危险源。因为许多材料尤其是金属在与氢接触时容易出现所谓的“氢脆化”,故这尤其与伴有负荷变化(温度变化和应力变化)和振动的情况下通常会导致在已知连接技术装置中的泄漏。因为氢是所有化学元素中最轻的,故很难实现永久密封的连接部位。
因此,例如US 5,528,941 A描述了一种压力传感器10,其借助适配器可以连接至燃料箱40。适配器为此具有壳体4和用于容纳传感器的腔室11。壳体4借助于O形环密封5而在燃料箱40内被密封。压力传感器10也借助于密封圈被固定和密封在圆柱形凹部12内。但如果现在必须从适配器10和进而凹部 12中取出压力传感器10以便检查或维修,则造成直接连通至燃料箱40的内室,因此燃料箱必须在拆下压力传感器10之前被完全排空。
发明内容
鉴于在将构件连接或接合到配对件例如像选自如下组的部件时的上述问题,该组包括诸如压力容器、阀、阀组、集成阀等,本实用新型的任务是提供一种系统、一种适配器部件、一种适配器壳体、一种包括这种适配器部件和这种适配器壳体的适配器系统以及一种方法,它们能够一方面允许将该构件从配对件(部件)上拆下而无需例如消除在配对件内存在的压力(排空),另一方面又顾及上述问题,例如氢脆化、出现由温度变化和应力变化以及振动引起的泄漏。
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