[实用新型]一种用于测试电子元件的恒温恒湿试验装置

说明书

本实用新型提供一种用于测试电子元件的恒温恒湿试验装置，包括箱体结构；所述箱体结构上铰接安装有护板结构；所述箱体结构内部开设有内箱结构；所述箱体结构顶部卡接安装有四组干燥结构；护板结构还包括有门板、观测窗，门板上开设有四组观测窗，每组观测窗均采用加厚的钢化玻璃安装，门板内侧面的靠边沿位置设置有密封条，铰接安装的门板为检测设备的主要防护结构，而现有的检测设备的门窗上只设置有一组观测窗，单一的观测窗无法良好的对内部进行观测，将门板上开设四组观测窗，使得门板在关闭之后具有更加良好的观测目的，且观测窗采用加厚的钢化玻璃，使得四组观测窗具有门板应有的强度。

技术领域

本实用新型属于电子检测设备技术领域，更具体地说，特别涉及一种用于测试电子元件的恒温恒湿试验装置。

背景技术

电子元件，恒温恒湿箱温度调节是通过箱体内置温度传感器，采集数据，经温度控制器(微型信息处理器)调节，接通空气加热单元来实现增加温度或者调节制冷电磁阀来降低箱体内温度，以达到控制所需要的温度。恒温恒湿箱湿度调节是通过体内置湿度传感器，采集数据，经湿度控制器(微型信息处理器)调节，接通水槽加热元件，通过蒸发水槽内的水来实现增加箱体内的湿度或者调节制冷电磁阀来实现去湿作用，以达到控制所需要的湿度。

基于上述，现有的检测设备在使用后内部会积攒有水分，在检测过程中无法排出的水分会对检测箱内的电子原件受到影响，检测箱上设置的干燥设备只具有单一的加热去湿的效果，干燥的效果也不够均匀，使得检测箱无法快速的达到所需要的干湿度问题。

于是，有鉴于此，针对现有的结构及缺失予以研究改良，提供一种用于测试电子元件的恒温恒湿试验装置，以期达到更具有更加实用价值性的目的。

实用新型内容

为了解决上述技术问题，本实用新型提供一种用于测试电子元件的恒温恒湿试验装置，以解决现有检测设备在使用后内部会积攒有水分，在检测过程中无法排出的水分会对检测箱内的电子原件受到影响，检测箱上设置的干燥设备只具有单一的加热去湿的效果，干燥的效果也不够均匀，使得检测箱无法快速的达到所需要的干湿度问题的问题。

本实用新型用于测试电子元件的恒温恒湿试验装置的目的与功效，由以下具体技术手段所达成：

一种用于测试电子元件的恒温恒湿试验装置，包括箱体结构；所述箱体结构上铰接安装有护板结构；所述箱体结构内部开设有内箱结构；所述箱体结构顶部卡接安装有四组干燥结构；所述箱体结构的底部套接安装有两组辅助结构；护板结构还包括有门板、观测窗、密封条，门板上开设有四组观测窗，每组观测窗均采用加厚的钢化玻璃安装，门板内侧面的靠边沿位置设置有密封条。

进一步的，所述箱体结构还包括有检测箱、间隔层，检测箱的箱体内设置有间隔层，间隔层内添加有海绵块，且海绵块设置呈三角体形状的结构。

进一步的，所述干燥结构还包括有风机筒、导向筒、加热板，检测箱的顶部安装有导向筒，导向筒设置呈向内倾斜的结构，导向筒的顶部固定有风机筒，风机筒的顶端安装有加热板。

进一步的，所述内箱结构还包括有间隔条、喷头、导向槽，检测箱的左右两端内壁上均设置四组间隔条，且在每组间隔条靠下端均设置有五组喷头，检测箱的内面上开设有导向槽。

进一步的，所述辅助结构还包括有排料口、下料筒、内槽，排料口设置在检测箱的底面上，且在排料口内套接安装有下料筒，下料筒内壁上开设有内槽，内槽呈螺旋形状的结构。

与现有技术相比，本实用新型具有如下有益效果：

本实用新型的护板结构中，铰接安装的门板为检测设备的主要防护结构，而现有的检测设备的门窗上只设置有一组观测窗，单一的观测窗无法良好的对内部进行观测，将门板上开设四组观测窗，使得门板在关闭之后具有更加良好的观测目的，且观测窗采用加厚的钢化玻璃，使得四组观测窗具有门板应有的强度。