[实用新型]一种通用型芯片测试板有效

专利信息
申请号: 202023149181.4 申请日: 2020-12-23
公开(公告)号: CN213750212U 公开(公告)日: 2021-07-20
发明(设计)人: 许新颜 申请(专利权)人: 常州韦斯佰瑞电子科技有限公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28;G01R1/04
代理公司: 上海精晟知识产权代理有限公司 31253 代理人: 周琼
地址: 213000 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 通用型 芯片 测试
【说明书】:

实用新型公开了一种通用型芯片测试板,包括测试底板、两个卡接机构、芯片本体以及两个弹起机构,两个卡接机构分别固定连接在测试底板顶部的左右两侧,芯片本体设置在测试底板的上方且位于两个卡接机构之间的位置,两个弹起机构对称设置的在测试底板的顶部且对应芯片本体的位置,卡接机构包括支撑杆、卡接弹簧、连接块、卡块以及两个限位滑杆,连接块通过接弹簧固定连接在支撑杆侧面的顶部。本实用新型通过测试底板、卡接机构、芯片本体以及弹起机构之间的相互配合,实现了一种通用型芯片测试板,方便对待检测的芯片进行固定,使芯片定位更精确更快速,从而方便对芯片进行测试,进而提升了芯片检测的效率。

技术领域

本实用新型涉及芯片测试技术领域,具体为一种通用型芯片测试板。

背景技术

芯片在出厂交予客户前需要进行一系列严格的芯片测试,目前传统的芯片测试方法是,针对待测芯片的种类和样式定制一块芯片测试板,待测芯片可以固定安装在芯片测试板的测试位上,芯片测试板则作为芯片测试机对待测芯片进行测试的一个载台,但是常见的测试板不方便对待检测芯片进行固定,从而降低了测试的工作效率。

实用新型内容

为解决上述问题本实用新型提供了一种通用型芯片测试板。

为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种通用型芯片测试板,包括测试底板、两个卡接机构、芯片本体以及两个弹起机构,两个所述卡接机构分别固定连接在所述测试底板顶部的左右两侧,所述芯片本体设置在所述测试底板的上方且位于两个所述卡接机构之间的位置,两个所述弹起机构对称设置的在所述测试底板的顶部且对应芯片本体的位置;

所述卡接机构包括支撑杆、卡接弹簧、连接块、卡块以及两个限位滑杆,所述连接块靠近所述支撑杆的一侧通过所述卡接弹簧固定连接在所述支撑杆侧面的顶部,所述卡块固定连接在所述连接块远离所述卡接弹簧的一侧,两个所述限位滑杆对称固定连接在所述连接块靠近所述支撑杆的一侧;

所述弹起机构包括安装槽、弹起弹簧、弹杆、弹块以及橡胶垫,所述测试底板的顶部对称开设有安装槽,所述弹起弹簧固定连接在所述安装槽内壁的底部,所述弹杆固定连接在所述弹起弹簧的顶部,所述弹块固定连接在所述弹杆的顶部,所述橡胶垫固定连接在所述弹块的上方。

优选的,所述支撑杆固定安装在所述测试底板的顶部。

优选的,所述卡块靠近所述芯片本体的一侧与所述芯片本体相互接触。

优选的,所述限位滑杆靠近所述支撑杆的一侧活动贯穿所述支撑杆设置,两个所述限位滑杆的侧面通过操作把手固定连接。

优选的,所述弹杆的顶部活动贯穿所述安装槽且延伸至所述测试底板的外部。

优选的,所述橡胶垫靠近所述芯片本体的一侧与所述芯片本体相互接触。

与现有技术相比,本实用新型的有益效果如下:

1、本实用新型通过测试底板、卡接机构、芯片本体以及弹起机构之间的相互配合,实现了一种通用型芯片测试板,方便对待检测的芯片进行固定,使芯片定位更精确更快速,从而方便对芯片进行测试,进而提升了芯片检测的效率。

2、本实用新型通过设置操作把手方便工作人员对检测完成后的芯片进行取下。

附图说明

图1为本实用新型正视图的结构剖面图;

图2为本实用新型卡接机构正视图的结构剖面图;

图3为本实用新型图1中A-A的局部放大图。

图中:1测试底板、2卡接机构、3芯片本体、4弹起机构、201支撑杆、202卡接弹簧、203连接块、204卡块、205限位滑杆、401安装槽、402弹起弹簧、403弹杆、404弹块、405橡胶垫、5操作把手。

具体实施方式

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