[实用新型]透射晶体谱仪对中装置有效

专利信息
申请号: 202023157013.X 申请日: 2020-12-24
公开(公告)号: CN213957643U 公开(公告)日: 2021-08-13
发明(设计)人: 蔡红春;黄显宾;徐强;张思群;任晓东 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院流体物理研究所
主分类号: G01T1/36 分类号: G01T1/36;G01T7/00;G01N23/00
代理公司: 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 代理人: 余翔
地址: 621000*** 国省代码: 四川;51
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 透射 晶体 装置
【权利要求书】:

1.透射晶体谱仪对中装置,包括底板(10),底板(10)上间隔一定距离的布置有透射晶体(3)和接收探测器(9),其特征在于,还包括:

对中光源(6),布置在接收探测器相对于透射晶体另一侧的底板上;

入射板(5),布置在对中光源与接收探测器之间的底板上;

出射板(2),布置在透射晶体相对于入射板另一侧的底板上;

第一调节架(4),与透射晶体(3)相连,用于调节透射晶体俯仰和倾斜转动;

入射板(5)上设置有入射通光孔(501),出射板(2)上设置有出射通光孔(201);所述入射通光孔(501)、出射通光孔(201)和对中光源(6)同轴线布置。

2.如权利要求1所述的透射晶体谱仪对中装置,其特征在于,所述对中光源(6)上设置有用于调节对中光源在横向和竖向上移动以及俯仰与倾斜转动的镜架(7),对中光源(6)通过镜架(7)与底板(10)相连。

3.如权利要求2所述的透射晶体谱仪对中装置,其特征在于,所述底板上设置有用于调节底板在横向和竖向上移动以及俯仰与倾斜转动的第二调节架(8)。

4.如权利要求1所述的透射晶体谱仪对中装置,其特征在于,所述对中光源(6)为激光器。

5.如权利要求1所述的透射晶体谱仪对中装置,其特征在于,所述接收探测器(9)为成像板或X射线胶片中的一种。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国工程物理研究院流体物理研究所,未经中国工程物理研究院流体物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202023157013.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top