[实用新型]透射晶体谱仪对中装置有效
申请号: | 202023157013.X | 申请日: | 2020-12-24 |
公开(公告)号: | CN213957643U | 公开(公告)日: | 2021-08-13 |
发明(设计)人: | 蔡红春;黄显宾;徐强;张思群;任晓东 | 申请(专利权)人: | 中国工程物理研究院流体物理研究所 |
主分类号: | G01T1/36 | 分类号: | G01T1/36;G01T7/00;G01N23/00 |
代理公司: | 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 | 代理人: | 余翔 |
地址: | 621000*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 透射 晶体 装置 | ||
1.透射晶体谱仪对中装置,包括底板(10),底板(10)上间隔一定距离的布置有透射晶体(3)和接收探测器(9),其特征在于,还包括:
对中光源(6),布置在接收探测器相对于透射晶体另一侧的底板上;
入射板(5),布置在对中光源与接收探测器之间的底板上;
出射板(2),布置在透射晶体相对于入射板另一侧的底板上;
第一调节架(4),与透射晶体(3)相连,用于调节透射晶体俯仰和倾斜转动;
入射板(5)上设置有入射通光孔(501),出射板(2)上设置有出射通光孔(201);所述入射通光孔(501)、出射通光孔(201)和对中光源(6)同轴线布置。
2.如权利要求1所述的透射晶体谱仪对中装置,其特征在于,所述对中光源(6)上设置有用于调节对中光源在横向和竖向上移动以及俯仰与倾斜转动的镜架(7),对中光源(6)通过镜架(7)与底板(10)相连。
3.如权利要求2所述的透射晶体谱仪对中装置,其特征在于,所述底板上设置有用于调节底板在横向和竖向上移动以及俯仰与倾斜转动的第二调节架(8)。
4.如权利要求1所述的透射晶体谱仪对中装置,其特征在于,所述对中光源(6)为激光器。
5.如权利要求1所述的透射晶体谱仪对中装置,其特征在于,所述接收探测器(9)为成像板或X射线胶片中的一种。
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