[实用新型]测试装置

说明书

本实用新型涉及性能测试技术领域，提供一种测试装置包括：壳体，具有测试空腔；安置部，设置于测试空腔中，且安置部具有用于安置待测试可发光器件的安置位；性能检测器，设置于测试空腔中，以用于检测待测试可发光器件的性能；第一温度传感器，设置于测试空腔中，以用于检测待测试可发光器件处的温度；以及降温器，设置于测试空腔中或者与测试空腔连通，以用于在第一温度传感器所检测的温度高于预设值时对测试空腔进行降温。本实用新型提供的测试装置，可在温度高于预设值时对测试空腔进行降温，避免待测试可发光器件产生的热量积聚于测试空腔中，从而提高对待测试可发光器件性能测试的准确性。

技术领域

本实用新型涉及性能测试技术领域，尤其涉及一种测试装置。

背景技术

量子点发光二极管(QLED)、有机发光二极管(OLED)等可发光器件的性能可以从发光性能和电学性能两个方面来评价。发光性能主要包括发射光谱、发光亮度、发光效率、发光色度以及寿命等，而电学性能包括电流与电压的关系等，这些都是衡量材料和器件性能的主要参数。

对可发光器件的寿命进行测试时，需将待测试样品置于测试盒封闭的腔体中，通过光敏探测器等性能检测器对待测试样品的性能进行检测。但是，在测试过程中，待测试样品发光并产生热量，而热量积聚在测试盒封闭的腔体中得不到释放，导致测试盒封闭腔体的温度升高。一方面，测试盒腔体温度升高会加速待测试样品的温度升高，进而加速待测试样品的老化而降低其寿命，影响寿命测试的准确性；另一方面，测试盒腔体温度升高会导致光敏探测器等性能检测器的温度升高，进而影响光敏探测器等性能检测器的响应时间和检测精度，从而影响对待测试样品性能测试的准确性。因此，测试盒封闭腔体的温度升高，会影响对待测试样品性能测试的准确性。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种测试装置，以解决现有技术中因待测试可发光器件在性能测试过程中产生热量导致腔体温度升高而影响测试准确性的问题。

为实现上述目的，本实用新型采用的技术方案是：提供一种测试装置，所述测试装置包括：壳体，所述壳体具有测试空腔；安置部，所述安置部设置于所述测试空腔中，且所述安置部具有用于安置待测试可发光器件的安置位；性能检测器，所述性能检测器设置于所述测试空腔中，以用于检测待测试可发光器件的性能；第一温度传感器，所述第一温度传感器设置于所述测试空腔中，以用于检测待测试可发光器件处的温度；以及降温器，所述降温器设置于所述测试空腔中或者与所述测试空腔连通，以用于在所述第一温度传感器所检测的温度高于预设值时对所述测试空腔进行降温。

在一个实施例中，所述壳体具有进风口和出风口，所述进风口和所述出风口均与所述测试空腔相连通，所述降温器包括散热风机，所述散热风机的出风端与所述进风口连通，和/或所述散热风机的进风端与所述出风口连通。

在一个实施例中，所述降温器还包括第一通风管，且所述散热风机的出风端通过所述第一通风管与所述进风口连通，和/或所述降温器还包括第二通风管，且所述散热风机的进风端通过所述第二通风管与所述出风口连通。

在一个实施例中，所述第一通风管为黑色通风管，和/或所述第二通风管为黑色通风管。

在一个实施例中，所述进风口的口径小于所述出风口的口径；

在一个实施例中，所述进风口的进风方向朝向所述测试空腔的中部，且所述出风口的出风方向背离所述测试空腔的中部。

在一个实施例中，所述降温器包括设置于所述测试空腔中的制冷器。

在一个实施例中，所述测试装置还包括散热片，所述散热片连接于所述壳体，且所述性能检测器设置于所述散热片上。

在一个实施例中，所述测试装置还包括：第二温度传感器，所述第二温度传感器设置于所述测试空腔中，以用于检测所述性能检测器处的温度；以及制冷片，所述制冷片靠近于所述性能检测器设置，以用于在所述第二温度传感器所检测的温度高于预设值时对所述性能检测器进行降温。