[实用新型]一种快速判定DDR芯片失效的装置

说明书

本实用新型涉及芯片测试技术领域，公开了一种快速判定DDR芯片失效的装置，以便对取下的DDR芯片能快速有效判定是否失效。本实用新型包括用于和DDR进行读写操作的MCU、用于存储DDR设置参数的FLASH、用于DDR芯片电接入并固定DDR芯片的DDR测试插座、串行数据通信接口以及人机交互装置；所述MCU分别与所述FLASH、DDR测试插座、串行数据通信接口电连接，所述串行数据通信接口与所述人机交互装置电连接。在使用时，可将该DDR芯片放入DDR测试插座，MCU按DDR芯片的规格参数，对DDR进行读写操作，如读写操作正常，表示该芯片正确，如反馈错误，表示该芯片失效，进而起到快速判定的目的。本实用新型适用于DDR芯片失效检测。

技术领域

本实用新型涉及芯片测试技术领域，特别涉及一种快速判定DDR芯片失效的装置。

背景技术

随着智慧时代的到来，电子设备对数据处理运算能力越大，这就要求设备内置DDR芯片的容量越大，这就要求设备内置DDR芯片的数量增多，例如手机、电视、机顶盒等。工厂在大批量生产这些设备时，线路板的DDR芯片存在失效或焊接不好的情况，工厂维修人员在判定DDR芯片有问题时，一般将DDR芯片取下，对于取下的DDR芯片不能判定芯片是否失效，只能将其贴装到好的线路板上，能正常工作来判定是否失效，此维修方式耗费时间长，降低维修进度。对于取下的DDR芯片直接换成新的芯片，也能维修故障板，此维修存在一种想象，如果DDR芯片是未焊接好，而芯片未失效，通过更换新DDR芯片，相当于重新对DDR芯片进行了贴装，而取下的芯片未失效，不能报废，如果当成失效芯片进行报废，造成公司财产损失，为避免损失，将取下的DDR芯片放在此装置上，能快速判定DDR芯片是否失效，对于未失效的芯片可以重新进行使用，减少公司财产损失。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是：提出一种快速判定DDR芯片失效的装置，以便对取下的DDR芯片能快速有效判定是否失效。

为解决上述问题，本实用新型采用的技术方案是：一种快速判定DDR芯片失效的装置，包括：用于和DDR进行读写操作的MCU、用于存储DDR设置参数的FLASH、用于DDR芯片电接入并固定DDR芯片的DDR测试插座、串行数据通信接口以及人机交互装置；其中，所述MCU分别与所述FLASH、DDR测试插座、串行数据通信接口电连接，所述串行数据通信接口与所述人机交互装置电连接。在使用时，可将该DDR芯片放入DDR测试插座，MCU按DDR芯片的规格参数，对DDR进行读写操作，如读写操作正常，人机交互装置反馈该芯片正确，如反馈错误，表示该芯片失效，进而起到快速判定的目的。

进一步的，本实用新型中，人机交互装置可以是PC电脑；所述串行数据通信接口可以为RS232接口。

本实用新型的有益效果是：

1、简单快速有效判定

将DDR芯片放入DDR测试插座，通电开机，通过串口输入DDR型号，MCU按输入DDR型号进行相关规格数据的读取，通过读取数据的比较，来判定DDR是否失效，并通过串行数据通信接口和人机交互装置输出测试结果。

2、兼容多个厂家的DDR判定

不同厂家的DDR，其规格参数不同，一个型号对应一套参数，本实用新型中FLASH可以录入不同厂家的DDR型号，从而兼容多个厂家的DDR判定。

3、输入简单

对于新增加的DDR型号，参考DDR芯片的规格书，将DDR的关键参数通过串行数据通信接口和人机交互装置输入到MCU，MCU将输入参数保存到外置FLASH里，如要测试DDR时，MCU依照输入型号能快速从FLASH读取参数数据，并按此参数对DDR进行读写操作。

附图说明

图1是实施例提供的一种快速判定DDR芯片失效的装置的结构框图；

图2是实施例中快速判定DDR芯片失效装置的软件流程框图。