[实用新型]一种射频芯片ESD防护电路有效

专利信息
申请号: 202023195931.1 申请日: 2020-12-25
公开(公告)号: CN213753991U 公开(公告)日: 2021-07-20
发明(设计)人: 武春风;莫尚军;王文杰;魏浩;赵天源 申请(专利权)人: 航天科工微电子系统研究院有限公司
主分类号: H02H9/04 分类号: H02H9/04;H01L23/60
代理公司: 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 代理人: 贾年龙
地址: 610000 四川省成都市天府*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 射频 芯片 esd 防护 电路
【说明书】:

实用新型公开了射频芯片ESD防护电路,包括耐压电路单元和接地回路单元,接地回路单元与耐压电路单元连接;所述耐压电路单元设置在射频芯片的内部,且与射频芯片的内部射频输入输出端口连接;所述接地回路单元设置在射频芯片的内部,且与射频芯片的内部射频输入输出端口连接等;本实用新型在达到ESD防护效果的同时,不额外增加孤立的ESD防护单元,整体上减小芯片尺寸。

技术领域

本实用新型涉及芯片静电防护技术领域,具体涉及射频芯片ESD防护电路。

背景技术

ESD防护性能对于电子元器件是一项非常重要的性能。在元器件的使用,装配,调试及运输过程中,都会出现因静电而导致的产品失效。所以在电子元器件设计的过程中,需要在核心电路之外,为其加上射频芯片ESD防护电路,以达到元器件更高的可靠性。

现有的射频芯片ESD防护电路方案中,主要用于芯片的供电端口。常规的方案是通过串联二极管到地,实现ESD的防护功能。但该方案用在射频输入输出端口时不适用,其会对芯片性能有较大的影响。

实用新型内容

本实用新型的目的在于克服现有技术的不足,提供射频芯片ESD防护电路,在达到ESD防护效果的同时,不额外增加孤立的ESD防护单元,整体上减小芯片尺寸。

本实用新型的目的是通过以下方案实现的:

射频芯片ESD防护电路,包括耐压电路单元和接地回路单元,接地回路单元与耐压电路单元连接;所述耐压电路单元设置在射频芯片的内部,且与射频芯片的内部射频输入输出端口连接;所述接地回路单元设置在射频芯片的内部,且与射频芯片的内部射频输入输出端口连接。

进一步地,所述耐压电路单元包括电容,电容的一端与射频芯片的内部射频输入输出端口连接,电容的另一端与接地回路单元连接。

进一步地,该电容包括隔直电容或串接电容。

进一步地,该电容为串接电容时,数量至少两个。

进一步地,所述接地回路单元包括电感或者电阻。

进一步地,所述接地回路单元为电感时,电感的一端与电容的另一端连接,电感的另一端接地;所述接地回路单元为电阻时,电阻的一端与电容的另一端连接,电阻的另一端接地。

本实用新型的有益效果:

(1)本实用新型的技术方案是在射频端口,给瞬时高电压提供到地回路,以及提高芯片内部本身的耐压值两个方面。将ESD防护电路与芯片内部电路进行协同设计,在达到ESD防护效果的同时,不额外增加孤立的ESD防护单元,整体上减小芯片尺寸。

附图说明

下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为现有射频芯片的射频输入输出端的结构示意图;

图2为本实用新型连接有接地回路单元的结构示意图;

图3为本实用新型连接有耐压电路单元的结构示意图;

图4为本实用新型连接有耐压电路单元、接地回路单元的结构示意图。

具体实施方式

本说明书中所有实施例公开的所有特征,或隐含公开的所有方法或过程中的步骤,除了互相排斥的特征和/或步骤以外,均可以以任何方式组合或替换。

如图1~4所示,射频芯片ESD防护电路,包括耐压电路单元和接地回路单元,接地回路单元与耐压电路单元连接;所述耐压电路单元设置在射频芯片的内部,且与射频芯片的内部射频输入输出端口连接;所述接地回路单元设置在射频芯片的内部,且与射频芯片的内部射频输入输出端口连接。

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